| 第一章 绪论 | 第1-17页 |
| ·引言 | 第7页 |
| ·有机绝缘材料表面放电研究现状 | 第7-13页 |
| ·有机绝缘材料的表面绝缘破坏 | 第7-8页 |
| ·漏电痕迹的概念 | 第8页 |
| ·漏电痕迹研究历史 | 第8-9页 |
| ·漏电痕迹受环境因素的影响 | 第9-13页 |
| ·有机绝缘材料放电中的分形与混沌研究现状 | 第13-15页 |
| ·有机绝缘材料内部电树枝的研究 | 第13-14页 |
| ·有机绝缘材料表面放电中的混沌研究 | 第14-15页 |
| ·问题的提出及本论文创新点 | 第15-16页 |
| ·本文的结构安排 | 第16-17页 |
| 第二章 分形与混沌发展现状 | 第17-24页 |
| ·引言 | 第17页 |
| ·混沌理论的研究现状 | 第17-21页 |
| ·分形理论的研究现状 | 第21-22页 |
| ·分形与混沌的定性和定量描述 | 第22-24页 |
| ·Lyapunov 指数 | 第23页 |
| ·分维数 | 第23页 |
| ·功率谱指数 | 第23页 |
| ·吸引子相图 | 第23-24页 |
| 第三章 电压波形对有机绝缘材料表面放电特征影响的分形与混沌分析 | 第24-48页 |
| ·直流电压下有机绝缘材料表面放电的分形与混沌分析 | 第24-38页 |
| ·引言 | 第24页 |
| ·试验装置 | 第24-25页 |
| ·分析方法及原理 | 第25-32页 |
| ·结果及讨论 | 第32-38页 |
| ·小结 | 第38页 |
| ·脉冲电压下有机绝缘材料表面放电的分形与混沌分析 | 第38-43页 |
| ·引言 | 第38-39页 |
| ·试验装置 | 第39页 |
| ·分析方法及原理 | 第39页 |
| ·结果及讨论 | 第39-43页 |
| ·小结 | 第43页 |
| ·气隙放电的分形与混沌分析 | 第43-48页 |
| ·引言 | 第43页 |
| ·试验装置及数据 | 第43-44页 |
| ·试验原理及方法 | 第44页 |
| ·结果及讨论 | 第44-47页 |
| ·小结 | 第47-48页 |
| 第四章 低气压对有机绝缘材料表面放电影响的分形与混沌分析 | 第48-52页 |
| ·引言 | 第48页 |
| ·试验装置 | 第48页 |
| ·分析方法及原理 | 第48-49页 |
| ·结果及讨论 | 第49-51页 |
| ·本章小结 | 第51-52页 |
| 第五章 有机绝缘材料表面放电的混沌判断与预测 | 第52-59页 |
| ·引言 | 第52-53页 |
| ·混沌判断的意义 | 第52页 |
| ·混沌预测的意义 | 第52-53页 |
| ·分析方法及原理 | 第53-56页 |
| ·问题的提出 | 第53页 |
| ·Lyapunov 指数计算方法 | 第53-54页 |
| ·基于混沌理论的时间预测方法 | 第54-56页 |
| ·结果及讨论 | 第56-57页 |
| ·本章小结 | 第57-59页 |
| 第六章 回顾与展望 | 第59-61页 |
| ·全文总结 | 第59-60页 |
| ·研究展望 | 第60-61页 |
| 参考文献 | 第61-64页 |
| 发表论文和科研情况说明 | 第64-65页 |
| 致谢 | 第65页 |