| 中文摘要 | 第1-5页 |
| 英文摘要 | 第5-11页 |
| 第1章 绪论 | 第11-15页 |
| ·课题的提出与思路 | 第11-12页 |
| ·与课题相关的研究状况 | 第12-14页 |
| ·本文研究的主要内容与思路 | 第14-15页 |
| 第2章 射线成像无损检测技术基础 | 第15-42页 |
| ·用于无损检测的射线种类、性质和产生方法 | 第15-25页 |
| ·X射线和γ射线性质 | 第15页 |
| ·X射线的产生及其特点 | 第15-21页 |
| ·工业探伤常用γ射线的产生和特性 | 第21-24页 |
| ·射线无损检测中X射线和γ射线的比较与选择 | 第24-25页 |
| ·射线与物质的相互作用 | 第25-29页 |
| ·光电效应 | 第25-26页 |
| ·康普顿效应 | 第26-27页 |
| ·电子对效应 | 第27页 |
| ·瑞利散射 | 第27-28页 |
| ·各种相互作用发生的相对几率 | 第28-29页 |
| ·射线探伤的基本原理 | 第29-33页 |
| ·窄束、单色射线的强度衰减规律 | 第29-31页 |
| ·宽束、多色射线的强度衰减规律 | 第31-32页 |
| ·射线探伤的原理 | 第32-33页 |
| ·射线成像灵敏度影响因素 | 第33-39页 |
| ·射线成像对比度 | 第34-36页 |
| ·射线成像清晰度 | 第36-39页 |
| ·射线成像颗粒度 | 第39页 |
| ·射线工艺条件的选择 | 第39-41页 |
| ·射线源的选择 | 第39-40页 |
| ·X射线能量的选择 | 第40页 |
| ·焦距的选择 | 第40-41页 |
| ·常用辐射物理量及其单位 | 第41-42页 |
| 第3章 射线实时成像技术及评价方法 | 第42-63页 |
| ·射线胶片检测与实时成像检测概述 | 第42页 |
| ·X射线荧光透视法 | 第42-43页 |
| ·基于X射线图像增强器的成像系统 | 第43-47页 |
| ·X射线图像增强器 | 第43页 |
| ·图像增强器内部部件 | 第43-45页 |
| ·X射线图像增强器的性能参数 | 第45-47页 |
| ·线阵探测器扫描成像系统(LDA) | 第47-49页 |
| ·LDA的组成结构 | 第47-48页 |
| ·性能特性 | 第48-49页 |
| ·特点与应用 | 第49页 |
| ·基于光纤耦合CCD的射线成像系统 | 第49-50页 |
| ·平板式探测器(FPD)成像系统 | 第50-52页 |
| ·结构与工作原理 | 第50页 |
| ·特点与应用 | 第50-52页 |
| ·开放式射线成像系统 | 第52-53页 |
| ·实时成像系统性能的评价方法 | 第53-59页 |
| ·评价方法概述 | 第53-54页 |
| ·透度灵敏度 | 第54-57页 |
| ·空间分辨率 | 第57-59页 |
| ·成像系统的综合评价-调制传递函数(MTF) | 第59-63页 |
| ·成像系统调制传递函数(MTF)的概念与测量方法 | 第59页 |
| ·细小缺陷的分辨能力研究 | 第59-62页 |
| ·MTF和细小缺陷分辨关系讨论 | 第62-63页 |
| 第4章 基于闪烁体转换屏和科学级相机内视仪的研制 | 第63-112页 |
| ·内视仪设计思路与总体方案 | 第63-65页 |
| ·适用于高低能射线高质量成像仪的研制思路 | 第63页 |
| ·内视仪设计的总体方案 | 第63-64页 |
| ·对内视仪的主要性能指标要求 | 第64-65页 |
| ·闪烁体转换屏的确定与制作 | 第65-71页 |
| ·闪烁体的分类 | 第65页 |
| ·闪烁体的发光 | 第65页 |
| ·闪烁体的主要特性参数 | 第65-66页 |
| ·几种典型的闪烁体 | 第66-69页 |
| ·闪烁体的选择与转换屏的结构 | 第69-71页 |
| ·CCD的选择原则及ISD017AP型高性能CCD介绍 | 第71-78页 |
| ·ISD017AP型CCD简介 | 第71-72页 |
| ·CCD的结构及管脚介绍 | 第72-74页 |
| ·输出放大器结构与输出方式选择 | 第74-75页 |
| ·从B区的双级输出情况下的对驱动时序要求 | 第75-77页 |
| ·半导体制冷与测温功能 | 第77-78页 |
| ·CCD的制冷电路设计 | 第78页 |
| ·微机控制的CCD图像的流水线采集方法 | 第78-86页 |
| ·通常的顺序采集方法 | 第78-79页 |
| ·CCD图像数据的计算机采集总体方案 | 第79页 |
| ·CCD读出、A／D转换、数据传输的流水线工作方法 | 第79-81页 |
| ·信号预处理及复位噪声的消除方法 | 第81-82页 |
| ·A／D转换电路设计 | 第82-86页 |
| ·微机EPP方式的远距离控制与图像数据并行传输 | 第86-92页 |
| ·微机EPP工作方式 | 第86-88页 |
| ·EPP方式下远距离并行传输的方法与电路 | 第88-91页 |
| ·数据采集软件 | 第91-92页 |
| ·CCD图像采集控制电路设计 | 第92-103页 |
| ·控制信号的时序要求 | 第92-93页 |
| ·基于中小规模集成电路的控制电路设计 | 第93-96页 |
| ·基于CPLD的控制电路设计 | 第96-103页 |
| ·内视仪的光路设计 | 第103-108页 |
| ·转换屏的像和CCD的匹配关系 | 第103-105页 |
| ·镜头参数的计算与选择 | 第105-106页 |
| ·反射镜的设计 | 第106-108页 |
| ·内视仪制作与实验 | 第108-112页 |
| ·供电电路的设计 | 第108页 |
| ·内视仪制作与实验 | 第108-112页 |
| 第5章 内视仪中影响成像质量因素分析与校正 | 第112-132页 |
| ·概述 | 第112-113页 |
| ·CCD像元之间暗电荷不一致性分析和校正 | 第113-117页 |
| ·CCD暗电流的性质 | 第113页 |
| ·CCD暗电流特性分析 | 第113-116页 |
| ·CCD暗电流校正方法研究 | 第116-117页 |
| ·像元光响应不一致性及其校正 | 第117-122页 |
| ·CCD像元光响应不一致性的概念 | 第117-118页 |
| ·像元光响应不一致性分析 | 第118-120页 |
| ·CCD像元光子响应不一致性校正 | 第120-121页 |
| ·光响应不一致性校正实例 | 第121-122页 |
| ·光路系统渐晕的校正技术 | 第122-125页 |
| ·渐晕的原理与现象 | 第122-125页 |
| ·镜头渐晕的校正 | 第125页 |
| ·射线转换屏响应不一致性校正 | 第125-127页 |
| ·射线转换屏响应不一致性的现象 | 第125-126页 |
| ·射线转换屏响应不一致性研究与校正方法 | 第126页 |
| ·转换屏响应不一致性校正实例 | 第126-127页 |
| ·内视仪的校正矩阵获取顺序和校正实例 | 第127-130页 |
| ·校正矩阵获取顺序 | 第127-128页 |
| ·内视仪校正实例 | 第128-130页 |
| ·系统性能分析和校正总结 | 第130-132页 |
| 第6章 结束语 | 第132-136页 |
| ·本论文的主要研究成果和结论 | 第132-133页 |
| ·本论文的创新之处和所作的创造性工作 | 第133-134页 |
| ·本文的不足和需要进一步研究的工作 | 第134页 |
| ·总结 | 第134-136页 |
| 致谢 | 第136-137页 |
| 参考文献 | 第137-143页 |
| 攻读博士期间发表或已录用的与本文有关的论文 | 第143页 |