| <中文摘要> | 第1页 |
| <关键词> | 第2-3页 |
| <英文摘要> | 第3页 |
| <英文关键词> | 第3-7页 |
| 第一章 前言 | 第7-10页 |
| ·研究内容的背景和意义 | 第7页 |
| ·国内外研究概况 | 第7-8页 |
| ·论文的内容和结构 | 第8-10页 |
| 第二章 星载SAR基本原理 | 第10-24页 |
| ·合成孔径的概念 | 第10-11页 |
| ·多普勒现象 | 第11-12页 |
| ·合成孔径技术 | 第12-13页 |
| ·从相关的角度看合成孔径原理 | 第13-15页 |
| ·星载SAR分辨率分析 | 第15-18页 |
| ·SAR信号处理 | 第18-20页 |
| ·阵列天线基本原理 | 第20-24页 |
| 第三章 空间辐射效应的研究 | 第24-43页 |
| ·空间辐射环境 | 第24-25页 |
| ·辐射效应 | 第25-28页 |
| ·MOSFET的辐射效应 | 第28-30页 |
| ·MOS集成电路的辐射效应 | 第30页 |
| ·电离辐射失效机理 | 第30-35页 |
| ·MOS器件的辐射加固 | 第35-36页 |
| ·单粒子翻转（Single Event Upset） | 第36-38页 |
| ·闩锁效应（Latch－up） | 第38-39页 |
| ·几种系统加固的方法 | 第39-43页 |
| 第四章 星载SAR监控计算机的可靠性设计 | 第43-65页 |
| ·可靠性的基本理论 | 第43-49页 |
| ·监控计算机的工作流程 | 第49页 |
| ·监控计算机与外部接口关系 | 第49-50页 |
| ·监控计算机（MC）的模块划分 | 第50-51页 |
| ·监控计算机（MC）的可靠性建模 | 第51-55页 |
| ·双机备份与模块切换 | 第55-59页 |
| ·软件的可靠性设计 | 第59-65页 |
| 第五章 存储单位纠错电路设计与计算机模拟 | 第65-84页 |
| ·检错与纠错码的基本原理 | 第65-67页 |
| ·EDAC纠错编码芯片ACS630MS | 第67-69页 |
| ·简单的EDAC电路设计 | 第69-71页 |
| ·EDAC电路的改进一 | 第71-74页 |
| ·EDAC电路的改进二 | 第74页 |
| ·几种方案的比较 | 第74-75页 |
| ·MAX+PLUSⅡ EDA工具 | 第75页 |
| ·纠错电路计算机模拟 | 第75-84页 |
| 第六章 结束语 | 第84-85页 |
| <引文> | 第85-87页 |
| 致谢 | 第87页 |