| 摘要 | 第1-6页 |
| Abstract | 第6-9页 |
| 第1章 绪论 | 第9-14页 |
| ·射频识别技术的历史与现状 | 第9-11页 |
| ·UHF 频段的RFID 原理简介 | 第11-12页 |
| ·新问题的提出 | 第12页 |
| ·本文主要研究内容 | 第12-14页 |
| 第2章 虚拟仪器及 LabVIEW | 第14-25页 |
| ·虚拟仪器 | 第14-21页 |
| ·虚拟仪器的概念和特点 | 第14-16页 |
| ·虚拟仪器的发展与演变 | 第16-19页 |
| ·虚拟仪器的构建技术 | 第19-21页 |
| ·LabVIEW 开发平台介绍 | 第21-24页 |
| ·LabVIEW 简介 | 第21页 |
| ·图形化编程语言 | 第21-22页 |
| ·VI(Virtual Instrument)的概念 | 第22页 |
| ·LabVIEW 软件的特点 | 第22-23页 |
| ·LabVIEW 程序设计的一般过程 | 第23-24页 |
| ·小结 | 第24-25页 |
| 第3章 天线基本理论 | 第25-37页 |
| ·引言 | 第25页 |
| ·天线基础 | 第25-29页 |
| ·天线的辐射场 | 第25-27页 |
| ·天线的阻抗 | 第27页 |
| ·天线的极化 | 第27-28页 |
| ·天线的方向性系数 | 第28-29页 |
| ·微带天线 | 第29-34页 |
| ·微带天线简介 | 第29-31页 |
| ·传输线分析方法 | 第31-34页 |
| ·射频标签工作原理 | 第34-37页 |
| 第4章 基于 LabVIEW 射频标签阻抗测量电路设计 | 第37-53页 |
| ·阻抗测量的一般方法 | 第37-39页 |
| ·测量线法 | 第37-38页 |
| ·扫频长线法 | 第38-39页 |
| ·阻抗匹配的工作原理 | 第39-42页 |
| ·射频阻抗匹配电路的调整原理 | 第42-43页 |
| ·射频标签阻抗测量电路的整体方案 | 第43-50页 |
| ·用FFT 实现相位差θ | 第44-48页 |
| ·幅度比较器及其仿真图 | 第48-49页 |
| ·确定的C_1 和C_2 循环结构 | 第49-50页 |
| ·电路的整体结构及其仿真 | 第50-52页 |
| ·小结 | 第52-53页 |
| 总结与展望 | 第53-55页 |
| 参考文献 | 第55-58页 |
| 附录Ａ 攻读学位期间所发表的学术论文目录 | 第58-59页 |
| 致谢 | 第59页 |