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高速高精度ADC集成电路的研究与设计

摘要第1-7页
ABSTRACT第7-13页
第一章 绪论第13-19页
   ·研究背景第13页
   ·目前ADC的发展趋势第13页
   ·研究目的和意义第13-14页
   ·ADC的性能指标第14-18页
     ·静态参数第14-16页
     ·动态参数第16-18页
   ·论文写作安排第18-19页
第二章 高速ADC的发展动态及性能参数第19-26页
   ·Flash A/D转换器(全并行ADC)第19-20页
   ·Two-step Flash A/D转换器的结构和特点第20-21页
   ·折叠内插A/D转换器第21-23页
   ·Pipeline A/D转换器的结构和特点第23-25页
   ·本章小结第25-26页
第三章 流水线ADC的算法分析及研究第26-55页
   ·流水线ADC(Pipeline ADC)结构介绍第26-27页
   ·流水线ADC结构算法原理分析第27-38页
     ·两级并行ADC原理第27页
     ·流水线ADC原理第27-28页
     ·1.5位/级流水线ADC原理第28-33页
     ·数字校正原理第33-38页
   ·8位核心ADC结构第38-41页
   ·子ADC电路算法原理第41页
   ·MDAC电路算法原理第41-44页
   ·流水线ADC的误差来源分析第44-50页
     ·热噪声误差第45页
     ·比较器失调第45-46页
     ·MDAC误差第46-47页
     ·增益误差第47页
     ·运放非线性误差第47-48页
     ·采样保持运放的建立误差第48页
     ·时钟抖动噪声第48-49页
     ·电荷注入和时钟馈通效应第49-50页
   ·数字修调原理第50-53页
   ·电路实现难点第53-54页
     ·比较器的设计第53页
     ·放大器的设计第53-54页
     ·开关设计第54页
     ·器件的匹配第54页
   ·本章小结第54-55页
第四章 流水线ADC电路结构设计及性能分析第55-105页
   ·采样保持电路第55-76页
     ·采样保持电路的结构第55页
     ·简化模型第55页
     ·开环结构第55-56页
     ·闭环结构第56-57页
     ·采样开关第57-68页
     ·器件的优化和仿真结果第68-71页
     ·T/H电路的误差分析第71-74页
     ·T/H电路的实现第74-76页
     ·版图实现第76页
   ·运算放大器的设计第76-81页
     ·电路结构及设计考虑第77-78页
     ·指标分析及优化第78-80页
     ·电路实现及其仿真结果第80-81页
     ·版图设计第81页
   ·余量增益电路第81-86页
     ·余量增益电路结构第81-84页
     ·余量增益电路的增益误差分析第84-85页
     ·余量增益电路的KT/C噪声误差第85页
     ·设计版图第85-86页
   ·基准电路第86-92页
     ·带隙基准电路第86-88页
     ·比较器第88-91页
     ·运算放大器第91页
     ·基准电路的实现第91-92页
   ·时钟管理器第92-102页
     ·时钟输入电路第93-94页
     ·时钟同步电路第94-95页
     ·时钟占空比稳定电路第95-99页
     ·高脉宽调节器第99-100页
     ·积分器第100页
     ·比较器第100-101页
     ·无交叠时钟电路第101-102页
   ·8位流水线ADC整体电路框图第102-104页
   ·本章小结第104-105页
第五章 版图设计与测试第105-124页
   ·ADC版图设计第105-108页
     ·器件适配分析第105-107页
     ·版图布局布线考虑第107-108页
   ·测试第108-114页
     ·测试方案第109-114页
       ·静态参数通过“柱状图”法测定第109-111页
       ·动态参数测定第111-114页
   ·测试系统的建设第114-118页
     ·测试板电路第115-117页
     ·测试板布局布线第117-118页
     ·测试程序第118页
   ·测试结果第118-122页
     ·静态特性:微分非线性和积分非线性第118-120页
     ·动态特性:信噪比SNR、有效位数ENOB、谐波失真等动态特性第120-122页
   ·本章小结第122-124页
第六章 结论第124-127页
致谢第127-128页
参考文献第128-137页
攻读博士学位期间发表的论文及获奖情况第137-139页
附录1 部分电路图第139-143页
附录2 测试程序第143-149页

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