| 摘要 | 第3-4页 |
| abstract | 第4页 |
| 第1章 绪论 | 第7-13页 |
| 1.1 引言 | 第7页 |
| 1.2 电介质理论基础 | 第7-8页 |
| 1.3 国内外发展现状 | 第8-12页 |
| 1.4 本课题研究内容 | 第12-13页 |
| 第2章 CaWO_4与ZnZrNb_2O_8陶瓷的制备与性能研究 | 第13-19页 |
| 2.1 样品制备 | 第13-14页 |
| 2.2 样品致密度测试 | 第14-15页 |
| 2.3 相组成和XRD(X-ray diffraction)衍射分析 | 第15页 |
| 2.4 场扫描发射电镜微观形貌测试分析 | 第15页 |
| 2.5 微波性能分析 | 第15页 |
| 2.6 Rietveld全谱拟合分析原理 | 第15-16页 |
| 2.7 微观结构参数计算 | 第16-19页 |
| 第3章 CaWO_4的纯相以及取代研究 | 第19-47页 |
| 3.1 CaWO_4纯相样品的最佳工艺流程确定以及介电性能 | 第19-22页 |
| 3.2 CaWO_4中B位取代Mo的实验研究 | 第22-37页 |
| 3.2.1 实验流程简介 | 第23页 |
| 3.2.2 微观形貌分析 | 第23-24页 |
| 3.2.3 物相分析 | 第24-25页 |
| 3.2.4 Ca(W_(1-x)Mo_x)O_4的Reitveld精修 | 第25-26页 |
| 3.2.5 键长计算以及晶胞模型的建立 | 第26-28页 |
| 3.2.6 介电参数的测量以及讨论 | 第28-37页 |
| 3.3 CaWO_4A位取代Sr/Ba的研究 | 第37-47页 |
| 3.3.1 实验流程简介 | 第37-38页 |
| 3.3.2 微观形貌研究 | 第38-39页 |
| 3.3.3 物相分析 | 第39-40页 |
| 3.3.4 Ca1-xSrxWO_4的Reitveld精修 | 第40-41页 |
| 3.3.5 键长计算以及晶胞模型的建立 | 第41页 |
| 3.3.6 介电参数的测量以及讨论 | 第41-47页 |
| 第4章 ZnZrNb_2O_8的纯相以及取代研究 | 第47-61页 |
| 4.1 ZnZrNb_2O_8纯相样品的最佳工艺流程确定以及介电性能 | 第47-50页 |
| 4.2 ZnZrNb_2O_8掺杂改性结果 | 第50-61页 |
| 4.2.1 ZnZrNb_2O_8A位取代Ni的掺杂研究 | 第51-52页 |
| 4.2.2 实验流程简介 | 第52页 |
| 4.2.3 微观形貌分析 | 第52页 |
| 4.2.4 物相分析 | 第52-54页 |
| 4.2.5 ZnZrNb_2O_8A位取代Ni的Reitveld精修 | 第54页 |
| 4.2.6 键长计算以及晶胞模型的建立 | 第54-55页 |
| 4.2.7 介电参数的测量以及讨论 | 第55-61页 |
| 第5章 全文总结及展望 | 第61-63页 |
| 参考文献 | 第63-67页 |
| 发表论文和参加科研情况 | 第67-69页 |
| 致谢 | 第69页 |
