| 摘要 | 第5-7页 |
| Abstract | 第7-8页 |
| 第1章 绪论 | 第11-27页 |
| 1.1 钙钛矿结构锰氧化物的结构特性 | 第11-13页 |
| 1.1.1 钙钛矿锰氧化物的晶体结构 | 第11-12页 |
| 1.1.2 锰氧化物的电子结构 | 第12-13页 |
| 1.2 钙钛矿结构锰氧化物的物理性质 | 第13-20页 |
| 1.2.1 磁输运性质 | 第13-16页 |
| 1.2.2 电输运性质 | 第16-17页 |
| 1.2.3 磁电阻 | 第17-20页 |
| 1.3 钙钛矿结构锰氧化物的应用 | 第20-22页 |
| 1.4 钙钛矿结构锰氧化物薄膜的制备方法 | 第22-25页 |
| 1.4.1 溅射法 | 第22-23页 |
| 1.4.2 脉冲激光沉积法 | 第23-24页 |
| 1.4.3 分子束外延法 | 第24-25页 |
| 1.4.4 溶胶-凝胶法 | 第25页 |
| 1.5 本文研究内容和意义 | 第25-27页 |
| 第2章 实验方法 | 第27-35页 |
| 2.1 制备方法 | 第27-28页 |
| 2.1.1 靶材的制备 | 第27-28页 |
| 2.1.2 薄膜的制备 | 第28页 |
| 2.2 结构表征 | 第28-32页 |
| 2.2.1 X射线衍射 | 第28-29页 |
| 2.2.2 扫描电子显微镜 | 第29-30页 |
| 2.2.3 透射电子显微镜 | 第30-31页 |
| 2.2.4 X射线光电子能谱 | 第31-32页 |
| 2.3 物性表征 | 第32-35页 |
| 2.3.1 超导量子干涉仪 | 第32-33页 |
| 2.3.2 综合物性测量系统 | 第33-34页 |
| 2.3.3 电学性能测试仪 | 第34-35页 |
| 第3章 沉积温度对La_(0.7)Sr_(0.3)MnO_3薄膜的结构特性的影响 | 第35-45页 |
| 3.1 前言 | 第35页 |
| 3.2 沉积温度对La_(0.7)Sr_(0.3)MnO_3薄膜的微结构的影响 | 第35-40页 |
| 3.2.1 XRD结果 | 第35-37页 |
| 3.2.2 SEM结果 | 第37-38页 |
| 3.2.3 TEM结果 | 第38-40页 |
| 3.3 沉积温度对La_(0.7)Sr_(0.3)MnO_3薄膜的电子结构的影响 | 第40-42页 |
| 3.4 结论 | 第42-45页 |
| 第4章 沉积温度对La_(0.7)Sr_(0.3)MnO_3薄膜的电磁性能的影响 | 第45-61页 |
| 4.1 引言 | 第45页 |
| 4.2 电性能测试 | 第45-50页 |
| 4.3 磁性能测试 | 第50-56页 |
| 4.4 磁电阻 | 第56-59页 |
| 4.5 结论 | 第59-61页 |
| 第5章 全文总结及展望 | 第61-63页 |
| 5.1 全文总结 | 第61页 |
| 5.2 研究展望 | 第61-63页 |
| 参考文献 | 第63-69页 |
| 攻读学位期间发表的论著 | 第69-71页 |
| 致谢 | 第71-72页 |
