| 摘要 | 第4-5页 |
| abstract | 第5-6页 |
| 第一章 绪论 | 第9-13页 |
| 1.1 反熔丝FPGA的背景与意义 | 第9-10页 |
| 1.2 反熔丝FPGA测试平台的发展现状与研究意义 | 第10-11页 |
| 1.3 本文的主要工作以及结构安排 | 第11-13页 |
| 第二章 反熔丝FPGA的基本原理与结构 | 第13-18页 |
| 2.1 反熔丝FPGA的基本架构 | 第13-14页 |
| 2.2 反熔丝单元与可测试资源 | 第14-17页 |
| 2.2.1 反熔丝单元器件 | 第14-15页 |
| 2.2.2 可测试逻辑模块 | 第15-16页 |
| 2.2.3 互联线资源和可编程I/O端口 | 第16-17页 |
| 2.3 本章小结 | 第17-18页 |
| 第三章 反熔丝FPGA测试方法研究与测试需求分析 | 第18-28页 |
| 3.1 MTM型反熔丝FPGA芯片 | 第18-19页 |
| 3.2 反熔丝FPGA测试电路 | 第19-20页 |
| 3.3 反熔丝FPGA测试方法与流程 | 第20-25页 |
| 3.3.1 CLB模块的编程测试 | 第20-22页 |
| 3.3.2 CLB模块的仿真验证 | 第22-25页 |
| 3.4 反熔丝FPGA测试平台的基本原理 | 第25-26页 |
| 3.5 反熔丝FPGA测试平台的设计需求分析 | 第26-27页 |
| 3.6 本章小结 | 第27-28页 |
| 第四章 反熔丝FPGA测试平台的系统架构与硬件系统设计 | 第28-54页 |
| 4.1 反熔丝FPGA测试平台系统架构 | 第28-30页 |
| 4.2 硬件架构方案设计 | 第30-31页 |
| 4.3 电源系统方案设计 | 第31-34页 |
| 4.4 基于STM32的核心控制板设计 | 第34-41页 |
| 4.4.1 通信电路设计 | 第34-35页 |
| 4.4.2 测试电压产生电路设计 | 第35-38页 |
| 4.4.3 采集反馈电路设计 | 第38-41页 |
| 4.5 STM32控制系统设计 | 第41-44页 |
| 4.6 硬件系统PCB板设计 | 第44-47页 |
| 4.7 驱动方案设计 | 第47-53页 |
| 4.7.1 针对STM32控制外围电路的驱动设计方案 | 第47-49页 |
| 4.7.2 针对控制板与上位机软件通信的驱动方案设计 | 第49-53页 |
| 4.8 本章小结 | 第53-54页 |
| 第五章 上位机软件设计与实例验证 | 第54-63页 |
| 5.1 上位机软件设计 | 第54-55页 |
| 5.1.1 信号signal与槽slot() | 第54-55页 |
| 5.1.2 上位机通信协议 | 第55页 |
| 5.2 上位机软件界面设计 | 第55-59页 |
| 5.3 FPGA测试平台实例验证 | 第59-61页 |
| 5.3.1 测试硬件平台 | 第59-60页 |
| 5.3.2 功能验证结果 | 第60-61页 |
| 5.4 本章小结 | 第61-63页 |
| 第六章 总结与展望 | 第63-64页 |
| 6.1 总结 | 第63页 |
| 6.2 展望 | 第63-64页 |
| 致谢 | 第64-65页 |
| 参考文献 | 第65-67页 |
| 攻读硕士学位期间获得的成果 | 第67页 |
