光无源器件研发过程中的可靠性研究
| 摘要 | 第5-7页 |
| ABSTRACT | 第7-8页 |
| 第一章 引言 | 第11-18页 |
| 1.1 选题背景及意义 | 第11-13页 |
| 1.2 问题提出 | 第13-14页 |
| 1.3 国内外研究相动向 | 第14-15页 |
| 1.4 论文的主要内容与章节安排 | 第15-17页 |
| 1.5 本章小结 | 第17-18页 |
| 第二章 不确定可靠度模型 | 第18-54页 |
| 2.1 测度学基础 | 第19-20页 |
| 2.2 不确定数学理论基础 | 第20-25页 |
| 2.3 不确定规划 | 第25-26页 |
| 2.4 不确定可靠度模型 | 第26-53页 |
| 2.4.1 不确定系统的可靠度指标 | 第26-28页 |
| 2.4.2 不确定系统的可靠性基本模型 | 第28-36页 |
| 2.4.3 不确定可靠度分布估计 | 第36-53页 |
| 2.5 本章小结 | 第53-54页 |
| 第三章 POD研发过程分析 | 第54-65页 |
| 3.1 光通信行业与POD相关背景 | 第54-56页 |
| 3.2 POD研发过程的特性 | 第56-59页 |
| 3.2.1 POD研发过程的定义 | 第56页 |
| 3.2.2 POD研发过程的性质 | 第56-57页 |
| 3.2.3 POD研发过程的特点 | 第57-59页 |
| 3.2.4 POD研发过程的代表性 | 第59页 |
| 3.3 POD研发过程中的可靠性 | 第59-64页 |
| 3.3.1 研发过程可靠性研究的必要性 | 第59页 |
| 3.3.2 研发过程可靠性控制的方法 | 第59-61页 |
| 3.3.3 POD研发过程可靠性的影响因素 | 第61页 |
| 3.3.4 POD研发过程的可靠度模型 | 第61-64页 |
| 3.4 本章小结 | 第64-65页 |
| 第四章 工程应用 | 第65-81页 |
| 4.1 案例背景介绍 | 第65-66页 |
| 4.2 工程应用案例 | 第66-78页 |
| 4.2.1 工程案例 1 | 第66-68页 |
| 4.2.2 工程案例 2 | 第68-70页 |
| 4.2.3 工程案例 3 | 第70-78页 |
| 4.3 案例评析 | 第78页 |
| 4.4 可靠性增长建议 | 第78-79页 |
| 4.5 研究的推广 | 第79-80页 |
| 4.6 本章小结 | 第80-81页 |
| 第五章 结论与展望 | 第81-83页 |
| 5.1 结论与价值 | 第81-82页 |
| 5.2 后续研究工作展望 | 第82-83页 |
| 参考文献 | 第83-87页 |
| 符号与标记（附录 1） | 第87-88页 |
| 致谢 | 第88-89页 |
| 攻读硕士学位期间已发表或录用的论文 | 第89页 |
