| 摘要 | 第4-5页 |
| Abstract | 第5页 |
| 第一章 绪论 | 第8-13页 |
| 1.1 RFID 技术发展历史 | 第8-9页 |
| 1.2 RFID 技术的优缺点 | 第9页 |
| 1.3 RFID 技术国内外研究现状 | 第9-10页 |
| 1.3.1 RFID 技术国外研究现状 | 第9-10页 |
| 1.3.2 RFID 技术国内研究现状 | 第10页 |
| 1.4 RFID 技术在我国的发展趋势及应用 | 第10-13页 |
| 第二章 RFID 的基本原理 | 第13-26页 |
| 2.1 RFID 系统组成及工作原理 | 第13-14页 |
| 2.2 RFID 系统分类 | 第14页 |
| 2.2.1 按照频率范围划分 | 第14页 |
| 2.2.2 按照供电形式划分 | 第14页 |
| 2.3 EPC C1G2 协议标准及其通信特点 | 第14-26页 |
| 2.3.1 物理层协议 | 第16-23页 |
| 2.3.2 逻辑层协议 | 第23-26页 |
| 第三章 RFID 定位算法研究 | 第26-33页 |
| 3.1 室内定位技术介绍 | 第26-28页 |
| 3.2 射频定位技术的定位依据 | 第28-31页 |
| 3.2.1 通过信号到达角度定位（AOA） | 第28-30页 |
| 3.2.2 通过信号到达时间定位（TOA） | 第30页 |
| 3.2.3 到达时间差法（TDOA） | 第30页 |
| 3.2.4 通过信号强度值定位（RSSI） | 第30-31页 |
| 3.3 信号强度值与距离的映射关系 | 第31-32页 |
| 3.4 参考标签算法 | 第32-33页 |
| 第四章 RFID 室内定位算法实现 | 第33-42页 |
| 4.1. 影响 RFID 室内定位系统精度的因素 | 第33-34页 |
| 4.1.1 参考标签阵列的拓扑结构及密度对定位精度的影响 | 第33页 |
| 4.1.2 室内环境中的多径效应对定位精度的影响 | 第33页 |
| 4.1.3 其他环境因素对定位精度的影响 | 第33-34页 |
| 4.2 VIRE 室内定位系统 | 第34-42页 |
| 4.2.1 系统结构 | 第34-35页 |
| 4.2.2 系统算法 | 第35-40页 |
| 4.2.3 系统定位结果及优缺点 | 第40-42页 |
| 第五章 RFID 阅读器硬件电路设计 | 第42-55页 |
| 5.1 RFID 射频收发器 AS3992 及外围电路 | 第42-52页 |
| 5.1.1 AS3992 概述 | 第42-43页 |
| 5.1.2 AS3992 供电 | 第43-44页 |
| 5.1.3 AS3992 工作模式 | 第44-45页 |
| 5.1.4 AS3992 内部 VCO 与 PLL | 第45-46页 |
| 5.1.5 AS3992 硬件电路设计 | 第46-52页 |
| 5.2 C8051 单片机 | 第52-55页 |
| 5.2.1 性能和特点 | 第52-53页 |
| 5.2.2 FLASH 存储器和 JTAG 调试 | 第53页 |
| 5.2.3 可编程 IO 和交叉开关 | 第53-54页 |
| 5.2.4 其他通信端口 | 第54-55页 |
| 第六章 测试 | 第55-71页 |
| 6.1 Intel R1000 射频开发平台简介 | 第55-57页 |
| 6.2 Intel R1000 开发平台的程序控制 | 第57-62页 |
| 6.2.1 场强值（RSSI）读取函数 | 第57-62页 |
| 6.2.2 平台重启函数 | 第62页 |
| 6.3 标签读测试 | 第62-66页 |
| 6.3.1 读标签 EPC 号，测试步骤如下： | 第62-65页 |
| 6.3.2 读标签 TID 号 | 第65页 |
| 6.3.3 读标签 reserved 块 | 第65-66页 |
| 6.4 标签写测试 | 第66-71页 |
| 6.4.1 写标签的 EPC 号 | 第66-68页 |
| 6.4.2 写标签的 reserved 存储体 | 第68-69页 |
| 6.4.3 写标签的 TID 存储体 | 第69-71页 |
| 第七章 总结 | 第71-72页 |
| 参考文献 | 第72-74页 |
| 致谢 | 第74页 |
