| 中文摘要 | 第3-4页 |
| ABSTRACT | 第4页 |
| 第一章 绪论 | 第7-13页 |
| 1.1 国内外研究现状 | 第7-8页 |
| 1.2 TFT-LCD技术 | 第8-9页 |
| 1.3 TFT-LCD产品品质 | 第9-12页 |
| 1.3.1 分辨率 | 第9页 |
| 1.3.2 亮度与亮度均匀性 | 第9-10页 |
| 1.3.3 对比度 | 第10页 |
| 1.3.4 响应时间 | 第10页 |
| 1.3.5 可视角度 | 第10页 |
| 1.3.6 色再现性 | 第10页 |
| 1.3.7 功率消耗 | 第10-11页 |
| 1.3.8 串扰 | 第11页 |
| 1.3.9 闪烁 | 第11页 |
| 1.3.10 视觉检查项目 | 第11-12页 |
| 1.4 本文的研究内容及意义 | 第12-13页 |
| 第二章 TFT-LCD的结构及制作工艺 | 第13-43页 |
| 2.1 TFT-LCD的结构 | 第13-37页 |
| 2.1.1 液晶(LC) | 第14-29页 |
| 2.1.2 玻璃基板(Glass) | 第29-32页 |
| 2.1.3 彩色滤光片(Color Filter、C/F) | 第32-34页 |
| 2.1.4 偏振片(Polarizing Filter,POL) | 第34页 |
| 2.1.5 取向材料(PI) | 第34-36页 |
| 2.1.6 隔垫物(Post Spacer,Ball Spacer) | 第36-37页 |
| 2.1.7 背光源(Back Light Unit,BLU) | 第37页 |
| 2.2 TFT-LCD制作工艺 | 第37-43页 |
| 2.2.1 TFT阵列工艺 | 第38-40页 |
| 2.2.2 成盒工艺 | 第40-41页 |
| 2.2.3 模块工艺 | 第41-43页 |
| 第三章 White Mura的确认与分析 | 第43-49页 |
| 3.1 White Mura | 第43-45页 |
| 3.1.1 漏光(Light Leakage) | 第43-44页 |
| 3.1.2 White Mura现象及测试条件 | 第44-45页 |
| 3.2 White Mura分析思路及假设构建 | 第45-48页 |
| 3.2.1 点灯检查 | 第45页 |
| 3.2.2 对位检查(敲击前) | 第45-47页 |
| 3.2.3 显微镜观察(敲击后) | 第47页 |
| 3.2.4 工艺对比 | 第47-48页 |
| 3.2.5 材料对比 | 第48页 |
| 3.3 结论 | 第48-49页 |
| 第四章 White Mura的改善测试 | 第49-53页 |
| 4.1 Shield Bar宽度变更实验 | 第49页 |
| 4.2 BM宽度变更实验 | 第49-50页 |
| 4.3 Glass厚度变更实验 | 第50页 |
| 4.4 Spacer变更实验 | 第50-51页 |
| 4.5 液晶量变更实验 | 第51页 |
| 4.6 PS设计变更实验 | 第51-52页 |
| 4.7 结果与讨论 | 第52-53页 |
| 第五章 结论 | 第53-54页 |
| 参考文献 | 第54-55页 |
| 致谢 | 第55页 |
