摘要 | 第6-8页 |
ABSTRACT | 第8-9页 |
第一章 绪论 | 第13-34页 |
1.1 引言 | 第13-14页 |
1.2 THz辐射的特殊性质 | 第14-15页 |
1.3 THz辐射的应用技术 | 第15-19页 |
1.4 THz技术的发展现状 | 第19-22页 |
1.4.1 国外的THz技术研究现状 | 第19-20页 |
1.4.2 国内的THz技术研究现状 | 第20-22页 |
1.5 制约THz技术应用的主要因素 | 第22-23页 |
1.6 THz辐射调制技术的研究进展 | 第23-24页 |
1.7 本论文的研究内容 | 第24-25页 |
1.8 参考文献 | 第25-34页 |
第二章 THz辐射的产生和探测技术 | 第34-58页 |
2.1 引言 | 第34页 |
2.2 THz辐射的产生技术 | 第34-43页 |
2.2.1 宽带THz辐射的产生技术 | 第34-40页 |
2.2.2 窄带THz辐射的产生技术 | 第40-43页 |
2.3 THz辐射的探测技术 | 第43-53页 |
2.3.1 采样测量原理 | 第43-45页 |
2.3.2 光电导天线探测THz辐射 | 第45-48页 |
2.3.3 自由空间电光取样探测THz辐射 | 第48-51页 |
2.3.4 非线性频率上转换探测THz辐射 | 第51-52页 |
2.3.5 空气等离子体探测THz辐射 | 第52-53页 |
2.4 本章小结 | 第53页 |
2.5 参考文献 | 第53-58页 |
第三章 THz时域光谱技术和相关参数提取 | 第58-85页 |
3.1 引言 | 第58-59页 |
3.2 几种常用的THz时域光谱实验系统 | 第59-70页 |
3.2.1 全光泵浦-探测(pump-probe)实验系统 | 第59-61页 |
3.2.2 透射型太赫兹时域光谱(Transmission THz-TDS)系统 | 第61-67页 |
3.2.3 时间分辨的太赫兹时域光谱(Time-resolved Terahertz spectroscopy)系统 | 第67-69页 |
3.2.4 THz相干控制(THz coherent control)实验系统 | 第69-70页 |
3.3 相关光学参数的提取 | 第70-77页 |
3.3.1 块状样品的光学参数提取 | 第71-73页 |
3.3.2 导电膜的光学参数提取 | 第73-75页 |
3.3.3 太赫兹时间分辨谱中光学参数的提取 | 第75-77页 |
3.4 材料光学参数的拟合 | 第77-79页 |
3.4.1 Drude模型 | 第77-78页 |
3.4.2 Drude-Smith模型 | 第78-79页 |
3.5 小结 | 第79-80页 |
3.6 参考文献 | 第80-85页 |
第四章 磁场对THz波的控制 | 第85-98页 |
4.1 引言 | 第85页 |
4.2 周期性极化铌酸锂晶体中光整流THz辐射 | 第85-87页 |
4.3 实验设备及样品介绍 | 第87-88页 |
4.4 实验结果及分析 | 第88-94页 |
4.5 小结 | 第94页 |
4.6 参考文献 | 第94-98页 |
第五章 光激发对THz波的调制 | 第98-120页 |
5.1 引言 | 第98页 |
5.2 光激发块体半导体对宽带THz波的调制 | 第98-107页 |
5.2.1 实验设备及样品介绍 | 第98-99页 |
5.2.2 硅片在THz波段的性质 | 第99-100页 |
5.2.3 实验结果及讨论 | 第100-107页 |
5.3 光激发薄膜半导体对宽带THz波的调制 | 第107-115页 |
5.3.1 引言 | 第107-108页 |
5.3.2 实验设备及样品介绍 | 第108-110页 |
5.3.3 实验结果及讨论 | 第110-115页 |
5.4 小结 | 第115页 |
5.5 参考文献 | 第115-120页 |
第六章 THz波对SPP的相干控制研究 | 第120-130页 |
6.1 引言 | 第120页 |
6.2 实验设备及样品介绍 | 第120-121页 |
6.3 实验结果及讨论 | 第121-125页 |
6.4 本章小结 | 第125页 |
6.5 参考文献 | 第125-130页 |
第七章 总结与展望 | 第130-132页 |
7.1 本论文总结 | 第130-131页 |
7.2 对未来的展望 | 第131-132页 |
作者在攻读博士学位期间公开发表的论文 | 第132-134页 |
作者在攻读博士学位期间参加的会议 | 第134-135页 |
作者在攻读博士学位期间参与的项目 | 第135-136页 |
致谢 | 第136页 |