| 摘要 | 第4-5页 |
| ABSTRACT | 第5-6页 |
| 第1章 绪论 | 第10-22页 |
| 1.1 钛及钛合金 | 第10-14页 |
| 1.1.1 钛的发现及其性质 | 第10-11页 |
| 1.1.2 钛合金的性能与应用 | 第11-14页 |
| 1.2 TC4钛合金 | 第14-15页 |
| 1.2.1 TC4钛合金性能与应用 | 第14页 |
| 1.2.2 电子束焊接在TC4钛合金上的应用 | 第14-15页 |
| 1.3 深冷处理技术 | 第15-17页 |
| 1.3.1 深冷处理的历史与发展 | 第15-16页 |
| 1.3.2 深冷处理工艺 | 第16-17页 |
| 1.3.3 深冷处理作用机理及研究现状 | 第17页 |
| 1.4 焊接接头的疲劳 | 第17-20页 |
| 1.4.1 焊接接头疲劳简介 | 第17-18页 |
| 1.4.2 钛合金焊接接头的疲劳性能研究现状 | 第18页 |
| 1.4.3 疲劳寿命分析 | 第18-20页 |
| 1.4.4 改善疲劳性能的方法 | 第20页 |
| 1.5 本文主要研究内容 | 第20-22页 |
| 1.5.1 研究背景及意义 | 第20页 |
| 1.5.2 本文研究内容 | 第20-22页 |
| 第2章 试验方法及设备 | 第22-32页 |
| 2.1 TC4钛合金电子束焊接 | 第22页 |
| 2.2 深冷处理方法 | 第22-24页 |
| 2.3 残余应力的测试 | 第24-25页 |
| 2.3.1 测试前试样处理 | 第24页 |
| 2.3.2 盲孔法测量残余应力 | 第24-25页 |
| 2.4 拉伸试验设备及方法 | 第25-26页 |
| 2.5 冲击试验设备及方法 | 第26-27页 |
| 2.6 显微硬度测试 | 第27页 |
| 2.7 显微组织分析试验方法 | 第27-28页 |
| 2.8 电化学腐蚀试验方法 | 第28页 |
| 2.9 疲劳试验方法 | 第28-31页 |
| 2.9.1 疲劳试样的选择 | 第29页 |
| 2.9.2 疲劳试验设备 | 第29页 |
| 2.9.3 疲劳失效判定准则 | 第29-30页 |
| 2.9.4 S-N曲线 | 第30-31页 |
| 2.10 本章小结 | 第31-32页 |
| 第3章 深冷处理对TC4钛合金电子束焊接接头组织和残余应力的影响 | 第32-45页 |
| 3.1 TC4钛合金电子束焊接结果 | 第32-33页 |
| 3.2 TC4钛合金接头显微组织分析 | 第33-36页 |
| 3.3 TC4钛合金电子束焊接接头SEM分析 | 第36-39页 |
| 3.4 深冷处理对残余应力的影响 | 第39-42页 |
| 3.4.1 盲孔法测量残余应力结果 | 第39-41页 |
| 3.4.2 残余应力测量结果分析 | 第41-42页 |
| 3.5 深冷处理对接头硬度的影响 | 第42-43页 |
| 3.6 TC4钛合金电子束焊接接头X射线衍射（XRD）分析 | 第43-44页 |
| 3.7 本章小结 | 第44-45页 |
| 第4章 深冷处理对TC4钛合金电子束焊接接头性能的影响 | 第45-59页 |
| 4.1 深冷处理对拉伸性能的影响 | 第45-46页 |
| 4.1.1 拉伸试验结果 | 第45页 |
| 4.1.2 拉伸试验结果分析 | 第45-46页 |
| 4.2 深冷处理对冲击性能的影响 | 第46-48页 |
| 4.2.1 冲击试验结果 | 第46-47页 |
| 4.2.2 冲击试验结果分析 | 第47-48页 |
| 4.3 深冷处理对TC4钛合金电子束焊接接头电化学腐蚀性能的影响 | 第48-49页 |
| 4.4 TC4钛合金电子束焊接接头疲劳试验 | 第49-52页 |
| 4.4.1 统计分析 | 第49-50页 |
| 4.4.2 疲劳试验结果 | 第50-52页 |
| 4.4.3 绘制疲劳试验S-N曲线 | 第52页 |
| 4.5 疲劳试验结果分析 | 第52-57页 |
| 4.5.1 疲劳试样断口分析 | 第52-55页 |
| 4.5.2 残余应力对疲劳寿命影响 | 第55页 |
| 4.5.3 TC4钛合金电子束焊接接头TEM透射分析 | 第55-57页 |
| 4.6 本章小结 | 第57-59页 |
| 第5章 总结 | 第59-60页 |
| 参考文献 | 第60-64页 |
| 发表论文和参加科研情况说明 | 第64-65页 |
| 致谢 | 第65-66页 |
