摘要 | 第10-11页 |
ABSTRACT | 第11-12页 |
第一章 绪论 | 第13-17页 |
1.1 研究背景 | 第13-14页 |
1.2 目标与意义 | 第14页 |
1.3 本文主要工作 | 第14-15页 |
1.4 论文结构 | 第15-17页 |
第二章 技术背景 | 第17-29页 |
2.1 TMS320C66xx系列DSP简介 | 第17-19页 |
2.1.1 TMS320C6678 DSP的结构特点 | 第17-18页 |
2.1.2 DSP线性汇编简介 | 第18-19页 |
2.2 容错技术概述 | 第19-22页 |
2.2.1 容错相关概念 | 第19-20页 |
2.2.2 容错基本原理 | 第20页 |
2.2.3 硬件容错技术 | 第20-21页 |
2.2.4 软件容错技术 | 第21-22页 |
2.3 软件错误检测技术研究现状 | 第22-24页 |
2.3.1 控制流错误检测技术 | 第22-23页 |
2.3.2 数据流错误检测技术 | 第23-24页 |
2.4 软件错误恢复技术研究现状 | 第24-27页 |
2.4.1 控制流错误恢复技术 | 第24-25页 |
2.4.2 数据流错误恢复技术 | 第25-27页 |
2.5 本章小结 | 第27-29页 |
第三章 线性汇编级的控制流错误恢复技术 | 第29-55页 |
3.1 故障模型和相关概念 | 第29-30页 |
3.1.1 故障模型 | 第29页 |
3.1.2 相关概念 | 第29-30页 |
3.2 DCCLA控制流错误检测机制 | 第30-38页 |
3.2.1 基本块内部的控制流检测 | 第31-36页 |
3.2.2 基本块之间的控制流检测 | 第36-37页 |
3.2.3 过程间的控制流检测 | 第37-38页 |
3.3 DCCLA控制流错误恢复机制 | 第38-45页 |
3.3.1 活跃数据分析 | 第38-40页 |
3.3.2 故障处理例程 | 第40-42页 |
3.3.3 基本块内部的控制流恢复 | 第42-43页 |
3.3.4 基本块间的控制流恢复 | 第43-44页 |
3.3.5 过程间的控制流恢复 | 第44-45页 |
3.4 算法分析 | 第45-49页 |
3.4.1 DCCLA的错误恢复能力分析 | 第45-48页 |
3.4.2 控制流错误恢复延迟 | 第48-49页 |
3.4.3 算法的优势与不足 | 第49页 |
3.5 可配置优化策略 | 第49-53页 |
3.5.1 重新划分基本块 | 第50-51页 |
3.5.2 重新设置插装指令密度 | 第51页 |
3.5.3 故障延迟处理 | 第51-53页 |
3.6 本章小结 | 第53-55页 |
第四章 线性汇编级的数据流错误恢复方法 | 第55-67页 |
4.1 DSP软加固概述 | 第55-57页 |
4.1.1 软错误对DSP芯片的影响 | 第55-56页 |
4.1.2 软错误导致的故障传播与失效 | 第56-57页 |
4.1.3 DSP软加固面临的主要困难 | 第57页 |
4.2 数据流错误恢复机制FFRBI | 第57-64页 |
4.2.1 幂等性定义 | 第58页 |
4.2.2 程序执行路径敏感度分析 | 第58-61页 |
4.2.3 FFRBI错误流错误恢复机制 | 第61-64页 |
4.3 FFRBI算法分析 | 第64-65页 |
4.3.1 FFRBI的优势与不足 | 第64-65页 |
4.3.2 FFRBI的性能开销 | 第65页 |
4.4 FFRBI优化策略 | 第65-66页 |
4.5 本章小结 | 第66-67页 |
第五章 实现和验证 | 第67-77页 |
5.1 自动容错转换工具 | 第67-69页 |
5.2 高能粒子辐照实验 | 第69-70页 |
5.3 模拟故障注入实验 | 第70-74页 |
5.3.1 故障注入工具的设计与实现 | 第70-71页 |
5.3.2 故障注入实验结果分析 | 第71-74页 |
5.4 性能开销实验 | 第74-76页 |
5.4.1 DCCLA性能开销实验结果分析 | 第74-75页 |
5.4.2 FFRBI性能开销实验结果分析 | 第75-76页 |
5.5 本章小结 | 第76-77页 |
结束语 | 第77-79页 |
致谢 | 第79-81页 |
参考文献 | 第81-85页 |
作者在学期间取得的学术成果 | 第85页 |