摘要 | 第5-7页 |
Abstract | 第7-8页 |
第一章 绪论 | 第13-21页 |
1.1 课题研究背景 | 第13-14页 |
1.2 视觉测量技术国内外研究现状 | 第14-17页 |
1.2.1 视觉检测技术分类及应用 | 第14页 |
1.2.2 视觉尺寸测量国内外研究现状 | 第14-17页 |
1.3 国内外现状评述、课题提出及意义 | 第17-18页 |
1.4 课题的研究思路和主要安排 | 第18-21页 |
第二章 视觉在线测量监控系统总体设计 | 第21-42页 |
2.1 成像系统分析 | 第21-25页 |
2.1.1 测量目标分析 | 第21-24页 |
2.1.2 成像方案分析 | 第24-25页 |
2.1.3 系统检测性能需求分析 | 第25页 |
2.2 系统总体框架设计 | 第25-26页 |
2.2.1 系统框架逻辑分析 | 第25-26页 |
2.2.2 视觉系统检测处理步骤 | 第26页 |
2.3 光学系统的设计与选型 | 第26-40页 |
2.3.1 工业相机选型 | 第26-30页 |
2.3.2 光源选型 | 第30-37页 |
2.3.3 光学镜头选型 | 第37-40页 |
2.4 测量平台运动机构方案设计 | 第40-41页 |
2.4.1 上料输送机构方案设计 | 第40页 |
2.4.2 定位及分拣机构方案设计 | 第40-41页 |
2.5 本章小结 | 第41-42页 |
第三章 共轨针阀尺寸测量的图像处理与分析 | 第42-70页 |
3.1 图像采集分析 | 第42-43页 |
3.1.1 图像采集方法及原理 | 第42页 |
3.1.2 图像分割 | 第42-43页 |
3.2 图像滤波算法分析 | 第43-50页 |
3.2.1 图像噪声来源分析 | 第43页 |
3.2.2 图像噪声滤除 | 第43-47页 |
3.2.3 噪声滤除性能对比实验 | 第47-49页 |
3.2.4 基于中值滤波的小区域滤波算法实验 | 第49-50页 |
3.3 目标边缘检测算法分析 | 第50-59页 |
3.3.1 一阶微分边缘检测算法分析 | 第50-53页 |
3.3.2 二阶微分边缘检测算法分析 | 第53-56页 |
3.3.3 边缘检测性能实验分析 | 第56-57页 |
3.3.4 基于Sobel的小区域定向搜索边缘检测算法 | 第57-58页 |
3.3.5 基于Sobel的小区域边缘特征点跟踪算法 | 第58-59页 |
3.4 亚像素定位及边缘拟合算法分析 | 第59-65页 |
3.4.1 亚像素定位概述 | 第60页 |
3.4.2 亚像素基础算法分析 | 第60-63页 |
3.4.3 基于稳健线性回归的直线拟合 | 第63-65页 |
3.5 几何尺寸参数测量方法分析 | 第65-69页 |
3.5.1 直径参数测量方法分析 | 第65-67页 |
3.5.2 角度参数测量方法分析 | 第67-68页 |
3.5.3 点到直线距离参数测量方法分析 | 第68-69页 |
3.6 本章小结 | 第69-70页 |
第四章 视觉测量系统相机标定 | 第70-81页 |
4.1 坐标系转换关系讨论 | 第70-72页 |
4.2 相机成像模型分析 | 第72-73页 |
4.2.1 线性模型分析 | 第72-73页 |
4.2.2 非线性模型分析 | 第73页 |
4.3 镜头畸变与校正分析 | 第73-75页 |
4.3.1 镜头畸变 | 第73-74页 |
4.3.2 畸变校正 | 第74-75页 |
4.4 视觉测量系统的标定分析 | 第75-80页 |
4.4.1 相机标定概述 | 第75页 |
4.4.2 线性标定方法 | 第75-76页 |
4.4.3 非线性优化标定方法 | 第76页 |
4.4.4 两步标定法 | 第76-77页 |
4.4.5 本系统采用的标定方式 | 第77-80页 |
4.5 本章小结 | 第80-81页 |
第五章 视觉测量平台系统的软硬件与通信控制设计 | 第81-101页 |
5.1 软件开发环境介绍 | 第81-82页 |
5.2 系统软件总体开发设计 | 第82-91页 |
5.2.1 算法运行流程设计 | 第82-83页 |
5.2.2 基于VB的二次开发 | 第83-84页 |
5.2.3 基于VB的主要部分程序 | 第84-91页 |
5.3 测量平台具体结构设计 | 第91-96页 |
5.3.1 上料输送机构设计 | 第92-93页 |
5.3.2 定位及分拣机构设计 | 第93-95页 |
5.3.3 光学测量机构设计 | 第95-96页 |
5.4 通信与控制设计 | 第96-100页 |
5.4.1 PC与PLC通信 | 第97页 |
5.4.2 PLC与执行元件 | 第97-98页 |
5.4.3 相机与PC、PLC通信 | 第98-99页 |
5.4.4 控制电路设计 | 第99-100页 |
5.5 本章小结 | 第100-101页 |
第六章 样机研制、可靠性评价及工序质量监控 | 第101-120页 |
6.1 样机研制及测量任务 | 第101-104页 |
6.1.1 样机系统平台构成 | 第101-103页 |
6.1.2 测量任务分析 | 第103-104页 |
6.2 样机测量可靠性评估分析 | 第104-115页 |
6.2.1 样机稳定性精度实验与分析 | 第104-108页 |
6.2.2 样机测量偏倚指数计算与分析 | 第108-111页 |
6.2.3 样机测量重复再现性精度实验与分析 | 第111-113页 |
6.2.4 误差分析与处理 | 第113-115页 |
6.3 工序质量分析与监控测试 | 第115-119页 |
6.3.1 (X|-)-R控制图 | 第115-117页 |
6.3.2 Cpk制程能力评估 | 第117-119页 |
6.4 本章小结 | 第119-120页 |
第七章 总结与展望 | 第120-122页 |
7.1 总结 | 第120-121页 |
7.2 展望 | 第121-122页 |
参考文献 | 第122-125页 |
攻读硕士学位期间发表的论文 | 第125-126页 |
致谢 | 第126页 |