| 摘要 | 第4-6页 |
| ABSTRACT | 第6-7页 |
| 第1章 绪论 | 第10-14页 |
| 1.1 开关电源发展的概述及其国内外发展现状 | 第10-11页 |
| 1.2 课题的研究意义 | 第11-12页 |
| 1.3 课题的研究内容及论文结构安排 | 第12-14页 |
| 1.3.1 课题的研究内容 | 第12页 |
| 1.3.2 论文结构安排 | 第12-14页 |
| 第2章 医用开关电源的架构 | 第14-19页 |
| 2.1 医用电源的技术指标及电路设计方案 | 第14-15页 |
| 2.1.1 技术指标 | 第14页 |
| 2.1.2 医用电源电路设计方案 | 第14-15页 |
| 2.2 单端反激式转换器的工作原理 | 第15-16页 |
| 2.3 PWM管理芯片选型 | 第16-18页 |
| 2.3.1 NCP1203特点介绍 | 第16-17页 |
| 2.3.2 NCP1203封装结构和电路原理 | 第17-18页 |
| 2.4 本章小结 | 第18-19页 |
| 第3章 电源电路的设计 | 第19-30页 |
| 3.1 电源的变压器参数计算 | 第19-22页 |
| 3.2 电源的电路设计 | 第22-28页 |
| 3.2.1 输入端电路 | 第23-25页 |
| 3.2.2 PWM控制电路 | 第25-26页 |
| 3.2.3 输出端电路 | 第26页 |
| 3.2.4 回授电路及保护电路 | 第26-28页 |
| 3.3 EMC及PCBLayout设计 | 第28-29页 |
| 3.4 本章小结 | 第29-30页 |
| 第4章 电源的可靠性验证 | 第30-46页 |
| 4.1 电子产品可靠性的概述 | 第30-31页 |
| 4.2 电子元器件的失效规律 | 第31-32页 |
| 4.2.1 早期失效期 | 第32页 |
| 4.2.2 偶然失效期 | 第32页 |
| 4.2.3 耗损失效期 | 第32页 |
| 4.3 电子元器件失效机理和电源预防性测试 | 第32-43页 |
| 4.3.1 电源元器件的EOS温升验证 | 第33-34页 |
| 4.3.2 电源元器件的EOS电应力验证 | 第34-42页 |
| 4.3.3 电源的ESD测试 | 第42-43页 |
| 4.4 电源的技术指标验证 | 第43-45页 |
| 4.5 本章小结 | 第45-46页 |
| 第5章 电源的安规测试 | 第46-52页 |
| 5.1 安规概述 | 第46-48页 |
| 5.1.1 安规概念 | 第46-47页 |
| 5.1.2 安规相关名词的说明 | 第47-48页 |
| 5.2 IEC60950（第三版）安规要求 | 第48-50页 |
| 5.2.1 IEC60950（第三版）对介电强度要求 | 第48-49页 |
| 5.2.2 IEC60950（第三版）对漏电流要求 | 第49-50页 |
| 5.3 基于IEC60601（第三版）的电源安规测试 | 第50-51页 |
| 5.3.1 电气介质强度测试 | 第50页 |
| 5.3.2 漏电流测试 | 第50-51页 |
| 5.4 本章小结 | 第51-52页 |
| 第6章 总结 | 第52-54页 |
| 参考文献 | 第54-57页 |
| 致谢 | 第57-58页 |
