输出射频频谱测试方法优化的研究和实现
| 摘要 | 第2-3页 |
| ABSTRACT | 第3页 |
| 1 引言 | 第9-14页 |
| 1.1 自动化测试设备历史 | 第10页 |
| 1.2 ATE 的分类 | 第10-11页 |
| 1.3 自动化测试设备的发展趋势 | 第11-12页 |
| 1.4 自动化测试的特点 | 第12-14页 |
| 2 ORFS 测试原理 | 第14-27页 |
| 2.1 GSM 和EDGE 简介 | 第14-19页 |
| 2.2 ORFS 简介 | 第19-20页 |
| 2.3 ORFS 测试方法 | 第20-27页 |
| 2.3.1 由调制引起的调制谱的测试 | 第21-24页 |
| 2.3.2 由开关引起的切换谱的测试 | 第24-27页 |
| 3 ORFS 测试优化 | 第27-42页 |
| 3.1 优化对象的分析 | 第27-32页 |
| 3.1.1 测试难点分析 | 第27页 |
| 3.1.2 测试优化方案的思路 | 第27-32页 |
| 3.2 测试优化方案的选择 | 第32-42页 |
| 3.2.1 窗的选择 | 第32-36页 |
| 3.2.2 加窗后的功率补偿算法 | 第36-40页 |
| 3.2.3 补零的原理和计算 | 第40-42页 |
| 4 测试结果分析 | 第42-45页 |
| 4.1 TTR 验证实验设计 | 第42-44页 |
| 4.1.1 实验数据收集要求 | 第42页 |
| 4.1.2 实验测试程序要求 | 第42页 |
| 4.1.3 实验数据收集 | 第42-44页 |
| 4.2 TTR 验证实验结果总结 | 第44-45页 |
| 4.2.1 TTR 测试时间及成本分析 | 第44页 |
| 4.2.2 TTR 程序使用性 | 第44-45页 |
| 5 结束语 | 第45-46页 |
| 参考文献 | 第46-47页 |
| 致谢 | 第47-48页 |
| 攻读学位期间发表的学术论文 | 第48-50页 |
