| 中文摘要 | 第6-8页 |
| Abstract | 第8-10页 |
| 第一章 绪论 | 第11-18页 |
| 1.1 研究背景 | 第11-15页 |
| 1.1.1 钍射气简介 | 第11-12页 |
| 1.1.2 钍射气浓度校准的必要性和研究现状 | 第12-14页 |
| 1.1.3 钍射气浓度测量方法研究现状 | 第14-15页 |
| 1.2 本研究的主要目的与意义 | 第15-16页 |
| 1.3 本研究的主要内容及论文构成 | 第16-18页 |
| 第二章 钍射气室的研制 | 第18-39页 |
| 2.1 引言 | 第18页 |
| 2.2 钍射气源 | 第18-25页 |
| 2.2.1 钍射气源的制作 | 第18-20页 |
| 2.2.2 钍射气源特性与讨论 | 第20-25页 |
| 2.3 钍射气室 | 第25-37页 |
| 2.3.1 钍射气室的设计与研制 | 第25-28页 |
| 2.3.2 钍射气室特性实验研究 | 第28-36页 |
| 2.3.3 钍射气室~(220)Rn浓度量值追溯 | 第36-37页 |
| 2.4 小结 | 第37-39页 |
| 第三章 基于闪烁室的220Rn气体准确测量方法研究 | 第39-66页 |
| 3.1 引言 | 第39页 |
| 3.2 流气式测量方法的研究 | 第39-50页 |
| 3.2.1 流气式测量方法衰变修正 | 第40-46页 |
| 3.2.2 闪烁室内~(220)Rn及其子体浓度变化规律 | 第46-49页 |
| 3.2.3 闪烁室对于α粒子的探测效率 | 第49-50页 |
| 3.3 抓取式测量方法的研究 | 第50-59页 |
| 3.3.1 采样测量流程及基本测量原理 | 第50-53页 |
| 3.3.2 测量时间表的优化 | 第53-59页 |
| 3.4 ~(220)Rn气体测量装置的开发与性能评价 | 第59-64页 |
| 3.4.1 ~(220)Rn气体测量装置的开发 | 第59-61页 |
| 3.4.2 ~(220)Rn浓度计算软件 | 第61-62页 |
| 3.4.3 探测效率刻度 | 第62-63页 |
| 3.4.4 探测下限 | 第63-64页 |
| 3.5 小结 | 第64-66页 |
| 第四章 固体核径迹氡探测器~(220)Rn浓度测量方法研究 | 第66-91页 |
| 4.1 引言 | 第66页 |
| 4.2 探测器原理与计算公式 | 第66-68页 |
| 4.3 内刻度系数计算方法 | 第68-69页 |
| 4.4 本研究设计的探测器 | 第69-76页 |
| 4.4.1 固体核径迹片 | 第69-70页 |
| 4.4.2 扩散腔室形状与尺寸 | 第70-72页 |
| 4.4.3 换气率 | 第72-74页 |
| 4.4.4 刻度系数 | 第74-76页 |
| 4.5 ~(220)Rn平衡过程与补偿过程 | 第76-79页 |
| 4.6 固体核径迹氡探测器受环境气象因素影响研究 | 第79-90页 |
| 4.6.1 材料与方法 | 第80-82页 |
| 4.6.2 结果与讨论 | 第82-90页 |
| 4.7 小结 | 第90-91页 |
| 第五章 基于BaFX成像板的~(220)Rn浓度测量方法 | 第91-103页 |
| 5.1 引言 | 第91页 |
| 5.2 BaFX成像板测量~(220)Rn的基本原理 | 第91-94页 |
| 5.2.1 BaFX成像板的探测机制 | 第91-92页 |
| 5.2.2 BaFX成像板测量~(220)Rn的辐射信号读取方法 | 第92-94页 |
| 5.3 探测性能的蒙特卡洛模拟 | 第94-98页 |
| 5.3.1 BaFX成像板空间结构模型 | 第94-95页 |
| 5.3.2 PSL值的计算 | 第95页 |
| 5.3.3 BaFX成像板对~(220)Rn探测特性 | 第95-98页 |
| 5.4 探测效率刻度和性能评价 | 第98-100页 |
| 5.4.1 实验材料和方法 | 第98-99页 |
| 5.4.2 探测效率刻度结果 | 第99页 |
| 5.4.3 探测性能评价与优势 | 第99-100页 |
| 5.5 利用BaFX成像板测量钍射气室均匀性 | 第100-101页 |
| 5.6 小结 | 第101-103页 |
| 第六章 总结与展望 | 第103-105页 |
| 6.1 本研究工作总结 | 第103-104页 |
| 6.2 本研究的特色和创新点 | 第104页 |
| 6.3 本研究的不足与展望 | 第104-105页 |
| 参考文献 | 第105-112页 |
| 附录 | 第112-145页 |
| 附录Ⅰ：博士期间发表的学术论文及参加会议 | 第112-114页 |
| 附录Ⅱ：隔室模型解析解的求解方法 | 第114-117页 |
| 附录Ⅲ：开发闪烁室测量装置的校准证书 | 第117-120页 |
| 附录Ⅳ：综述 | 第120-125页 |
| 附录Ⅴ：Geant4计算程序示例 | 第125-136页 |
| 附录Ⅵ：闪烁室抓取式方法计算用软件代码 | 第136-145页 |
| 致谢 | 第145-147页 |
