| 摘要 | 第5-7页 |
| abstract | 第7-8页 |
| 第一章 绪论 | 第11-18页 |
| 1.1 研究目的与意义 | 第11-12页 |
| 1.2 面结构光三维测量方法的研究概况 | 第12-14页 |
| 1.3 面结构光三维系统相位精度研究国内外现状 | 第14-16页 |
| 1.4 本文主要研究内容 | 第16-17页 |
| 1.5 本章小结 | 第17-18页 |
| 第二章 面结构光三维测量系统相位精度影响因素分析 | 第18-27页 |
| 2.1 相位测量轮廓术的基本原理 | 第18-19页 |
| 2.2 相位测量偏折术的基本原理 | 第19-22页 |
| 2.3 相位分布的提取 | 第22-24页 |
| 2.4 面结构光三维测量系统相位精度影响因素分析 | 第24-26页 |
| 2.5 本章小结 | 第26-27页 |
| 第三章 面结构光三维测量多次反射消除方法的研究分析 | 第27-37页 |
| 3.1 面结构光三维测量中多次反射问题的理论分析 | 第27-29页 |
| 3.2 面结构光三维测量多次反射的消除方法 | 第29-31页 |
| 3.3 实验结果分析 | 第31-36页 |
| 3.4 本章小结 | 第36-37页 |
| 第四章 非线性对面结构光三维测量相位精度影响的研究分析 | 第37-57页 |
| 4.1 面结构光三维测量中非线性的理论分析 | 第37-40页 |
| 4.2 相位测量轮廓术与相位偏折术非线性的比较 | 第40-42页 |
| 4.3 两种面结构光三维测量中非线性的消除方法 | 第42-46页 |
| 4.3.1 预先畸变条纹补偿法 | 第43-44页 |
| 4.3.2 基于受约束的三次样条插值的光强补偿法 | 第44-46页 |
| 4.4 基于线性拟合的相位查表补偿法 | 第46-49页 |
| 4.4.1 基本原理 | 第46-47页 |
| 4.4.2 仿真分析 | 第47-49页 |
| 4.5 实验结果分析 | 第49-56页 |
| 4.5.1 实验装置与系统的搭建 | 第49-50页 |
| 4.5.2 实验结果分析 | 第50-56页 |
| 4.6 本章小结 | 第56-57页 |
| 第五章 面结构光三维测量中高质量条纹的研究分析 | 第57-67页 |
| 5.1 面结构光三维测量中量化误差对相位精度影响的理论分析 | 第57-59页 |
| 5.2 面结构光三维测量中高质量条纹的研究分析 | 第59-62页 |
| 5.3 仿真与实验结果分析 | 第62-66页 |
| 5.3.1 仿真结果分析 | 第62-63页 |
| 5.3.2 实验结果分析 | 第63-66页 |
| 5.4 本章小结 | 第66-67页 |
| 第六章 总结与展望 | 第67-70页 |
| 6.1 本文研究内容总结 | 第67-68页 |
| 6.2 前景展望 | 第68-70页 |
| 致谢 | 第70-71页 |
| 参考文献 | 第71-77页 |
| 攻硕期间取得的研究成果 | 第77-78页 |
