| 摘要 | 第3-4页 |
| Abstract | 第4页 |
| 1 前言 | 第7-11页 |
| 1.1 研究的目的和意义 | 第7-8页 |
| 1.1.1 选题依据 | 第7页 |
| 1.1.2 研究目的 | 第7-8页 |
| 1.1.3 研究意义 | 第8页 |
| 1.2 进度安排 | 第8-9页 |
| 1.3 主要研究内容 | 第9页 |
| 1.4 取得的主要成果 | 第9-10页 |
| 1.5 主要实物工作量 | 第10-11页 |
| 2 研究现状 | 第11-19页 |
| 2.1 电子探针基本原理 | 第11-12页 |
| 2.2 轻元素 | 第12-13页 |
| 2.3 国外研究现状 | 第13-17页 |
| 2.3.1 电子光学条件——加速电压、束流、束斑 | 第13-14页 |
| 2.3.2 分光晶体的选择与谱线干扰 | 第14-16页 |
| 2.3.3 标样的选择 | 第16-17页 |
| 2.3.4 校正方法 | 第17页 |
| 2.4 国内研究现状 | 第17-18页 |
| 2.5 EPMA分析F等轻元素存在的问题 | 第18-19页 |
| 3 分析方法研究 | 第19-42页 |
| 3.1 实验仪器与样品 | 第19-20页 |
| 3.1.1 实验仪器 | 第19-20页 |
| 3.1.2 参考物质 | 第20页 |
| 3.2 分光晶体的选择 | 第20-23页 |
| 3.3 加速电压的选择 | 第23-28页 |
| 3.4 束流与束斑大小的选择 | 第28-32页 |
| 3.5 谱线干扰的剔除与校正 | 第32-37页 |
| 3.5.1 高次谱线干扰剔除 | 第33-35页 |
| 3.5.2 重元素1次谱线干扰校正 | 第35-37页 |
| 3.6 背景测量位置的选择 | 第37-38页 |
| 3.7 标样的选择 | 第38-40页 |
| 3.8 修正方法的选择 | 第40-41页 |
| 3.9 检出限的确定 | 第41-42页 |
| 4 不确定度的评定 | 第42-45页 |
| 4.1 不确定度的来源 | 第42页 |
| 4.2 标准不确定度分量的评定 | 第42-44页 |
| 4.2.1 样品与标样计数强度引入的不确定度U1rel、U2rel | 第42-43页 |
| 4.2.2 标准物质含量定值的不确定度分量U3rel | 第43-44页 |
| 4.2.3 ZAF修正引入的标准不确定度分量U4rel的评定 | 第44页 |
| 4.3 合成不确定度 | 第44页 |
| 4.4 扩展不确定度 | 第44-45页 |
| 5 方法验证和应用实例 | 第45-52页 |
| 5.1 测试方法流程 | 第45-46页 |
| 5.2 方法验证与对比 | 第46-48页 |
| 5.3 应用实例 | 第48-52页 |
| 5.3.1 条件设置 | 第48-49页 |
| 5.3.2 测试结果 | 第49页 |
| 5.3.3 不确定度的评定 | 第49-50页 |
| 5.3.4 测试结果验证 | 第50-52页 |
| 6 结论 | 第52-54页 |
| 6.1 主要研究成果 | 第52-53页 |
| 6.2 存在问题与建议 | 第53-54页 |
| 致谢 | 第54-55页 |
| 参考文献 | 第55-60页 |
| 附录 | 第60页 |
