| 摘要 | 第5-8页 |
| ABSTRACT | 第8-10页 |
| 第一章 绪论 | 第14-52页 |
| 1.1 钙钛矿构型氧化物的结构与性能 | 第14-23页 |
| 1.1.1 晶体结构 | 第14-16页 |
| 1.1.2 锰氧化物的电子结构与Jahn-Teller效应 | 第16-19页 |
| 1.1.3 锰氧化物的几种磁结构 | 第19-20页 |
| 1.1.4 超交换和双交换作用 | 第20-23页 |
| 1.2 强关联体系中的绝缘体-金属转变 | 第23-27页 |
| 1.3 RMnO_3的物性及研究进展 | 第27-34页 |
| 1.3.1 A位掺杂对电输运的影响 | 第28-30页 |
| 1.3.2 外部静压力对电磁性能的影响 | 第30-31页 |
| 1.3.3 外延压力对电磁性能的影响 | 第31-33页 |
| 1.3.4 氧缺陷对锰氧化物结构和性能的影响 | 第33-34页 |
| 1.4 双钙钛矿构型的锰氧化物的结构和物性 | 第34-40页 |
| 1.4.1 结构特征 | 第35-36页 |
| 1.4.2 双钙钛矿R_2Ni/CoMnO_6的研究现状 | 第36-38页 |
| 1.4.3 自旋-声子耦合 | 第38-40页 |
| 1.5 选题意义 | 第40-41页 |
| 1.6 本文主要研究内容 | 第41-44页 |
| 参考文献 | 第44-52页 |
| 第二章 R_2NiMnO_6中A位离子半径对结构和物性的影响 | 第52-68页 |
| 2.1 引言 | 第52-53页 |
| 2.2 实验条件 | 第53-54页 |
| 2.2.1 实验原理及方案 | 第53页 |
| 2.2.2 实验原材料与设备 | 第53-54页 |
| 2.2.3 实验具体步骤 | 第54页 |
| 2.3 样品分析手段 | 第54-55页 |
| 2.4 结果讨论 | 第55-63页 |
| 2.4.1 PAD方法制膜机理 | 第55-56页 |
| 2.4.2 样品结构和性能分析 | 第56-63页 |
| 2.5 本章小结 | 第63-64页 |
| 参考文献 | 第64-68页 |
| 第三章 R_2CoMnO_6薄膜中的自旋-声子耦合研究 | 第68-82页 |
| 3.1 引言 | 第68页 |
| 3.2 R_2CoMnO_6/LaAlO_3薄膜的制备 | 第68-70页 |
| 3.2.1 实验原理及方案 | 第68-69页 |
| 3.2.2 实验原材料与设备 | 第69页 |
| 3.2.3 实验具体步骤 | 第69-70页 |
| 3.3 样品分析手段 | 第70页 |
| 3.4 结果讨论 | 第70-76页 |
| 3.5 本章小结 | 第76-78页 |
| 参考文献 | 第78-82页 |
| 第四章 Y_2NiMnO_6薄膜的制备和表征 | 第82-96页 |
| 4.1 引言 | 第82-83页 |
| 4.2 Y_2NiMnO_6薄膜的制备 | 第83-84页 |
| 4.2.1 实验原理及方案 | 第83页 |
| 4.2.2 实验原材料与设备 | 第83-84页 |
| 4.2.3 实验具体步骤 | 第84页 |
| 4.3 样品分析手段 | 第84-85页 |
| 4.4 结果讨论 | 第85-92页 |
| 4.5 本章小结 | 第92-93页 |
| 参考文献 | 第93-96页 |
| 第五章 LaMnO_3薄膜的制备与表征 | 第96-112页 |
| 5.1 引言 | 第96-97页 |
| 5.2 LaMnO_3薄膜的制备 | 第97-98页 |
| 5.2.1 实验原理及方案 | 第97页 |
| 5.2.2 实验原材料与设备 | 第97页 |
| 5.2.3 实验具体步骤 | 第97-98页 |
| 5.3 样品分析手段 | 第98-99页 |
| 5.4 结果讨论 | 第99-106页 |
| 5.5 本章小结 | 第106-108页 |
| 参考文献 | 第108-112页 |
| 在读期间发表的学术论文与取得的其他研究成果 | 第112-114页 |
| 致谢 | 第114-115页 |
