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二极管检波效率测试系统设计与开发

中文摘要第8-9页
ABSTRACT第9-10页
第一章 绪论第11-15页
    1.1 选题背景第11页
    1.2 国内外研究现状第11-12页
    1.3 研究的目的及意义第12-13页
    1.4 章节安排第13-15页
第二章 开发标准及测试原理第15-18页
    2.1 检波效率测试的电路原理图及说明第15-16页
    2.2 基本原理的人工测试理论概括第16页
    2.3 基于基本原理的自动化测试理论概括第16-18页
第三章 算法框架的编写第18-31页
    3.1 Labview程序语言介绍第18页
    3.2 算法框架的介绍第18-28页
        3.2.1 状态机外部框架第22-23页
        3.2.2 状态机内部框架第23-28页
            3.2.2.1 状态机跳转指令语法的介绍第23-24页
            3.2.2.2 SCPI指令的介绍第24-25页
            3.2.2.3 Read指令系统的综述第25-28页
    3.3 算法理论的介绍第28-31页
第四章 特殊功能的子状态分析第31-39页
    4.1 子状态Excel的分析及自动造表功能的实现第31-36页
        4.1.1 Excel模板的制作第31-35页
        4.1.2 “MS Office Reprot”函数同模板的对接第35-36页
    4.2 子状态Clear的分析第36-37页
    4.3 子状态Show Array的分析第37页
    4.4 子状态Test Number Set的分析第37-39页
第五章 事件结构的两大利器第39-46页
    5.1 事件结构的介绍第39-40页
    5.2 超时事件的分析第40-46页
        5.2.1 动态链接库的应用第40页
        5.2.2 Call Library Function Node函数的应用第40-46页
第六章 测试程序的发布第46-53页
    6.1 应用程序的生成第46-50页
    6.2 安装程序的生成第50-53页
第七章 硬件组装及软件应用第53-60页
    7.1 硬件安装第53-56页
    7.2 设备操作及软件的使用介绍第56-60页
        7.2.1 设备的电源指示说明第56-57页
        7.2.2 程序的使用介绍第57-60页
            7.2.2.1 程序参数设置的介绍第58-59页
            7.2.2.2 程序测试操作的介绍第59-60页
第八章 结论第60-61页
附录第61-62页
参考文献第62-65页
致谢第65-66页
攻读学位期间发表的学术论文和参加科研情况第66-67页
学位论文评阅及答辩情况表第67页

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