| 摘要 | 第1-5页 |
| Abstract | 第5-9页 |
| 引言 | 第9-11页 |
| 1 绪论 | 第11-14页 |
| ·低功耗研究背景 | 第11-12页 |
| ·传统CMOS 电路的功耗分析 | 第12页 |
| ·漏功耗减小技术及触发器研究内容及安排 | 第12-14页 |
| 2 漏电流产生机理 | 第14-20页 |
| ·漏电流和漏功耗的产生 | 第14页 |
| ·漏电流种类及主要机理 | 第14-18页 |
| ·漏功耗带来的问题 | 第18-19页 |
| ·本章小结 | 第19-20页 |
| 3 传统CMOS 漏功耗减小技术 | 第20-27页 |
| ·活动漏功耗减小技术 | 第20-24页 |
| ·晶体管堆栈技术 | 第20-21页 |
| ·双阈值技术 | 第21-22页 |
| ·沟道长度偏置技术 | 第22-23页 |
| ·P 型电路设计技术 | 第23-24页 |
| ·休眠漏功耗减小技术 | 第24-26页 |
| ·功控休眠技术 | 第24-26页 |
| ·输入矢量控制技术 | 第26页 |
| ·本章小结 | 第26-27页 |
| 4 能量恢复电路以及几种典型的电路结构 | 第27-36页 |
| ·能量恢复电路原理及分类 | 第27-28页 |
| ·几种典型的电路结构 | 第28-34页 |
| ·ECRL 电路 | 第28-30页 |
| ·2N-2N2P 电路 | 第30-31页 |
| ·CAL 电路 | 第31-32页 |
| ·CPAL 电路 | 第32-34页 |
| ·DTGAL 电路 | 第34页 |
| ·本章小结 | 第34-36页 |
| 5 基于非功控触发器的漏功耗减小技术研究 | 第36-54页 |
| ·纳米级绝热电路活动漏功耗测量方法 | 第36-38页 |
| ·基于沟道长度偏置技术的能量恢复触发器 | 第38-43页 |
| ·基于沟道长度偏置技术的能量恢复触发器设计 | 第39-41页 |
| ·沟道长度偏置技术能量恢复触发器的应用 | 第41-43页 |
| ·基于P 型设计技术的能量恢复触发器 | 第43-53页 |
| ·基于P 型设计技术的能量恢复触发器设计 | 第44-48页 |
| ·P 型能量恢复触发器在四相ECRL 十进制计数器中的应用 | 第48-50页 |
| ·P 型能量恢复触发器在二相CPAL 十进制计数器中的应用 | 第50-53页 |
| ·本章小结 | 第53-54页 |
| 6 基于功控触发器的漏功耗减小技术研究 | 第54-69页 |
| ·二相CPAL 功控触发器 | 第54-56页 |
| ·二相CPAL 功控5*5*5 进制计数器设计 | 第56-62页 |
| ·基于多阈值技术的二相CPAL5*5*5 进制计数器设计 | 第62-68页 |
| ·本章小结 | 第68-69页 |
| 7 结论 | 第69-70页 |
| 参考文献 | 第70-73页 |
| 在学研究成果 | 第73-74页 |
| 致谢 | 第74页 |
