| 摘要 | 第1-6页 |
| Abstract | 第6-10页 |
| 第一章 绪论 | 第10-17页 |
| ·研究背景 | 第10-11页 |
| ·研究现状 | 第11-13页 |
| ·制冷片材料的研究 | 第11-12页 |
| ·制冷片构造和制冷的研究 | 第12-13页 |
| ·半导体制冷片检测设备 | 第13-14页 |
| ·提出绝热补偿评测方法 | 第14-15页 |
| ·本文的主要工作 | 第15-17页 |
| 第二章 半导体制冷的绝热补偿方法 | 第17-26页 |
| ·半导体制冷原理 | 第17-18页 |
| ·制冷片的产冷量 | 第18-19页 |
| ·制冷片特性分析 | 第19-21页 |
| ·传统的测量方法 | 第21-23页 |
| ·传统的测量方法 | 第21-22页 |
| ·传统方法的误差计算 | 第22-23页 |
| ·本文提出的测量方案 | 第23-26页 |
| ·系统组成及测量方法 | 第23-24页 |
| ·误差计算 | 第24-26页 |
| 第三章 半导体制冷片评估系统的硬件设计 | 第26-39页 |
| ·半导体制冷片评估系统的组成 | 第26页 |
| ·测控系统的测控原理 | 第26-27页 |
| ·硬件各部分的选型 | 第27-39页 |
| ·单片机的选择 | 第27页 |
| ·加热片的选择 | 第27-28页 |
| ·电源的设计 | 第28-33页 |
| ·干燥剂的选择与作用 | 第33页 |
| ·隔热材料的选择 | 第33-34页 |
| ·温度检测元件的选择 | 第34-37页 |
| ·风机和散热片的选择 | 第37-39页 |
| 第四章 系统的评测和控制算法 | 第39-54页 |
| ·评测方法 | 第39-45页 |
| ·半导体制冷技术涉及的效应 | 第39-41页 |
| ·电流和电压的测量 | 第41-42页 |
| ·、Kt、Rt、优值系数 Z 和制冷系数 COP 的计算 | 第42-44页 |
| ·对统计数据的选择 | 第44-45页 |
| ·控制算法 | 第45-54页 |
| ·模糊-PID 控制器的设计 | 第45页 |
| ·模糊控制器的结构选择 | 第45-46页 |
| ·模糊规则的选取 | 第46-47页 |
| ·确定语言值的隶属度函数 | 第47-49页 |
| ·建立模糊控制规则 | 第49-51页 |
| ·模糊推理和模糊判决 | 第51-54页 |
| 第五章 软件设计与实验结果 | 第54-62页 |
| ·软件概述 | 第54页 |
| ·程序模块及流程图 | 第54-57页 |
| ·主程序部分 | 第54-55页 |
| ·温度的采集 | 第55-56页 |
| ·模糊 PID 控制算法程序 | 第56-57页 |
| ·软件设计与界面 | 第57-58页 |
| ·计算及测试结果 | 第58-62页 |
| ·计算结果 | 第58-59页 |
| ·实验结果 | 第59-62页 |
| 第六章 总结与展望 | 第62-63页 |
| 参考文献 | 第63-66页 |
| 致谢 | 第66-67页 |
| 附录A：攻读学位期间发表的论文、所获专利及参与项目 | 第67页 |