| 摘要 | 第1-8页 |
| Abstract | 第8-10页 |
| 1 文献综述 | 第10-17页 |
| ·稻瘟病和白叶枯病对水稻生产的危害 | 第10页 |
| ·稻瘟病对水稻生产的危害 | 第10页 |
| ·白叶枯病对水稻生产的危害 | 第10页 |
| ·分子标记辅助选择(MAS)在育种工作中的应用 | 第10-13页 |
| ·分子标记辅助选择在水稻抗病育种中的优势 | 第10-11页 |
| ·目标基因的聚合 | 第11-12页 |
| ·目标基因的转移 | 第12页 |
| ·影响分子标记辅助选择的因素 | 第12-13页 |
| ·对水稻抗稻瘟病基因的研究 | 第13-14页 |
| ·水稻稻瘟病发生和病原菌的研究 | 第13页 |
| ·稻瘟病抗性基因的克隆进展 | 第13-14页 |
| ·Pi-1、Pi-2基因在水稻抗稻瘟病育种上的应用 | 第14页 |
| ·水稻抗白叶枯病的研究 | 第14-16页 |
| ·水稻白叶枯病抗性基因的克隆 | 第14-15页 |
| ·Xa-23基因在水稻白叶枯病抗性育种上的应用 | 第15-16页 |
| ·本研究的目的和意义 | 第16-17页 |
| 2 利用MAS转移抗稻瘟病基因Pi-1、Pi-2改良恢复系昌恢891 | 第17-30页 |
| ·试验材料 | 第17页 |
| ·试验方法 | 第17-22页 |
| ·技术路线 | 第17页 |
| ·分子标记辅助选择 | 第17-19页 |
| ·抗性基因连锁标记 | 第17-19页 |
| ·DNA的提取 | 第19页 |
| ·PCR扩增反应体系 | 第19-20页 |
| ·制胶与电泳 | 第20页 |
| ·遗传背景分析 | 第20页 |
| ·DNA的提取 | 第20页 |
| ·回复率的计算 | 第20页 |
| ·稻瘟病抗性鉴定 | 第20-21页 |
| ·农艺性状的考察 | 第21-22页 |
| ·改良后亲本所配杂种F_1的主要农艺性状 | 第22页 |
| ·结果与分析 | 第22-27页 |
| ·分子标记辅助选择体系的建立 | 第22-25页 |
| ·抗性基因连锁标记的选择 | 第22页 |
| ·抗病基因连锁标记在BC_3F_2代的多态性分析 | 第22-24页 |
| ·多重PCR应用于BC_3F_2代检测的可行性 | 第24-25页 |
| ·遗传背景分析 | 第25页 |
| ·改良株系的稻瘟病抗性鉴定 | 第25-26页 |
| ·改良株系农艺性状调查 | 第26页 |
| ·改良后亲本所配杂种F_1的主要农艺性状 | 第26-27页 |
| ·小结与讨论 | 第27-30页 |
| ·用于MAS的分子标记的选择 | 第27-28页 |
| ·获得含有双抗病基因植株的可行性 | 第28页 |
| ·Pi-1、Pi-2基因的抗病特点及双基因聚合的优点 | 第28页 |
| ·多重PCR技术的应用 | 第28-30页 |
| 3 利用MAS转移抗白叶枯病基因Xa-23改良恢复系昌恢891、昌恢121和昌恢T025 | 第30-38页 |
| ·试验材料 | 第30页 |
| ·试验方法 | 第30-31页 |
| ·技术路线 | 第30页 |
| ·抗性基因连锁标记的筛选 | 第30页 |
| ·DNA的提取 | 第30页 |
| ·PCR扩增 | 第30页 |
| ·制胶与电泳 | 第30-31页 |
| ·遗传背景分析 | 第31页 |
| ·白叶枯病抗性鉴定 | 第31页 |
| ·改良株系农艺性状调查 | 第31页 |
| ·改良株系所配组合优势调查 | 第31页 |
| ·结果与分析 | 第31-36页 |
| ·分子标记辅助选择体系的建立 | 第31-32页 |
| ·抗性基因连锁标记的选择 | 第31-32页 |
| ·抗病基因连锁标记在BC_3F_2代的多态性分析 | 第32-33页 |
| ·遗传背景分析 | 第33-34页 |
| ·改良株系的白叶枯病抗性鉴定 | 第34-35页 |
| ·改良株系农艺性状调查 | 第35页 |
| ·改良后亲本与五丰A配组的优势调查 | 第35-36页 |
| ·小结与讨论 | 第36-38页 |
| ·Xa-23基因的抗病特点及应用前景 | 第36-37页 |
| ·Xa-23基因与Pi-1、Pi-2基因的聚合前景 | 第37页 |
| ·用于Xa-23连锁的其他分子标记的应用 | 第37-38页 |
| 4 结论 | 第38-40页 |
| ·利用分子标记辅助选择改良自育恢复系,获得具有良好抗病性能的改良系 | 第38页 |
| ·为获得具有多个抗性基因的聚合系做好了准备 | 第38页 |
| ·关于改良后代的遗传背景分析 | 第38页 |
| ·关于分子标记辅助选择 | 第38-40页 |
| 参考文献 | 第40-45页 |
| 致谢 | 第45页 |
