| 摘要 | 第1-7页 |
| Abstract | 第7-11页 |
| 第一章 绪论 | 第11-26页 |
| ·课题背景 | 第11-12页 |
| ·空间太阳电池的发展 | 第12-13页 |
| ·太阳电池工作原理 | 第13-15页 |
| ·内建电场和内建电势 | 第13-14页 |
| ·光生伏特效应 | 第14-15页 |
| ·太阳电池基本结构、电学参数以及等效电路 | 第15-18页 |
| ·太阳电池的基本结构 | 第15-16页 |
| ·太阳电池的电学性能参数 | 第16页 |
| ·太阳电池的等效电路 | 第16-18页 |
| ·太阳电池辐照环境 | 第18页 |
| ·太阳电池机理表征 | 第18-21页 |
| ·非平衡载流子的产生 | 第18-19页 |
| ·载流子收集模型 | 第19-20页 |
| ·载流子的复合 | 第20-21页 |
| ·GaAs/Ge 电池辐照损伤效应研究现状 | 第21-22页 |
| ·太阳电池辐照损伤机理及表征 | 第22-25页 |
| ·本文的研究目的和主要内容 | 第25-26页 |
| 第二章 试验 | 第26-29页 |
| ·试验材料 | 第26页 |
| ·实验设备 | 第26-28页 |
| ·粒子辐照设备 | 第26-27页 |
| ·电学性能测试 | 第27-28页 |
| ·试验方案 | 第28页 |
| ·光谱响应测试 | 第28-29页 |
| 第三章 GaAs/Ge 太阳电池空间粒子辐照损伤机理 | 第29-54页 |
| ·PC1D 程序介绍 | 第29页 |
| ·PC1D 程序模拟方法 | 第29-33页 |
| ·GaAs/Ge 电池模型构建 | 第29-30页 |
| ·PC1D 程序模拟分析 | 第30-31页 |
| ·GaAs/Ge 太阳电池辐照前电学特性 | 第31-33页 |
| ·SRIM 与 CASINO 程序模拟分析 | 第33-36页 |
| ·GaAs/Ge 太阳电池电子辐照性能退化机理研究 | 第36-44页 |
| ·GaAs/Ge 太阳电池电子辐照光谱响分析 | 第36-39页 |
| ·GaAs/Ge 太阳电池电子辐照电学参数退化分析 | 第39-44页 |
| ·GaAs/Ge 太阳电池高能质子辐照损伤机理 | 第44-47页 |
| ·GaAs/Ge 太阳电池高能质子辐照光谱响分析 | 第44-45页 |
| ·GaAs/Ge 太阳电池高能质子辐照电学参数退化分析 | 第45-47页 |
| ·GaAs/Ge 太阳电池低能质子辐照损伤机理研究 | 第47-53页 |
| ·GaAs/Ge 太阳电池低能质子辐照光谱响应分析 | 第47-49页 |
| ·GaAs/Ge 太阳电池低能质子辐照电学参数退化分析 | 第49-53页 |
| ·本章小结 | 第53-54页 |
| 结论 | 第54-55页 |
| 参考文献 | 第55-60页 |
| 攻读硕士学位期间发表的学术论文 | 第60-62页 |
| 致谢 | 第62页 |
