OFDMA/SC-FDMA系统多用户随机接入算法研究
| 摘要 | 第1-6页 |
| ABSTRACT | 第6-14页 |
| 第一章 绪论 | 第14-19页 |
| ·论文研究的背景和意义 | 第14-16页 |
| ·国内外研究现状 | 第16-17页 |
| ·论文的主要内容及章节安排 | 第17-19页 |
| 第二章 OFDM 系统随机接入概述 | 第19-33页 |
| ·OFDM 系统概述 | 第19-21页 |
| ·OFDM 系统基本模型 | 第19-21页 |
| ·随机接入概述 | 第21-24页 |
| ·时频同步误差对随机接入的影响 | 第24-27页 |
| ·时偏对 OFDM 信号的影响 | 第24-26页 |
| ·频偏对 OFDM 信号的影响 | 第26-27页 |
| ·OFDMA 及 SC-FDMA 多址接入技术 | 第27-32页 |
| ·OFDMA 接入技术 | 第27-29页 |
| ·SC-FDMA 接入技术 | 第29-32页 |
| ·本章小结 | 第32-33页 |
| 第三章 LTE 上行随机接入技术 | 第33-54页 |
| ·LTE 随机接入过程 | 第33-35页 |
| ·随机物理接入信道 | 第35-37页 |
| ·随机接入时频结构 | 第35-36页 |
| ·前导序列及其复用 | 第36-37页 |
| ·前导序列发送机结构 | 第37页 |
| ·前导序列检测 | 第37-46页 |
| ·前导序列检测原理 | 第38-40页 |
| ·频偏对序列检测的影响 | 第40-43页 |
| ·前导序列检测算法 | 第43页 |
| ·检测算法 1 | 第43-44页 |
| ·检测算法 2 | 第44页 |
| ·算法分析 | 第44-46页 |
| ·仿真结果与分析 | 第46-52页 |
| ·本章小结 | 第52-54页 |
| 第四章 抗双衰落 OFDMA 系统随机接入方案 | 第54-81页 |
| ·引言 | 第54-56页 |
| ·随机接入方案 | 第56-61页 |
| ·随机接入流程 | 第56-57页 |
| ·空间分集 | 第57-58页 |
| ·信号设计 | 第58页 |
| ·相位偏移集 | 第58-60页 |
| ·发送机结构 | 第60-61页 |
| ·多用户检测 | 第61-67页 |
| ·接收机结构 | 第61页 |
| ·系统模型 | 第61-64页 |
| ·能量检测 | 第64-66页 |
| ·判决门限推导 | 第66-67页 |
| ·随机接入方案复杂度分析 | 第67-68页 |
| ·仿真结果与分析 | 第68-79页 |
| ·高斯白噪声信道 | 第69-71页 |
| ·多径信道 | 第71-75页 |
| ·双衰落信道 | 第75-79页 |
| ·本章小结 | 第79-81页 |
| 第五章 结束语 | 第81-83页 |
| ·论文研究工作总结 | 第81-82页 |
| ·未来工作展望 | 第82-83页 |
| 致谢 | 第83-84页 |
| 参考文献 | 第84-87页 |
| 个人简历 | 第87-88页 |
| 攻读硕士学位期间研究成果 | 第88-89页 |