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测试系统中用于测量和仪器控制的基于VISA的USB通信

Abstract第1-5页
Table of Contents第5-7页
Chapter 1 Introduction第7-12页
   ·Overview第7-8页
   ·Background第8页
   ·I/O Interfaces第8-9页
     ·GPIB第8-9页
     ·LAN第9页
     ·VXI第9页
   ·USB Interface第9-10页
     ·Features第9-10页
   ·VISA Overview第10-11页
     ·IEEE-488.2第10页
     ·SCPI at a glance第10-11页
   ·Outline第11-12页
Chapter 2 Related Work第12-14页
   ·Available Test systems第12页
   ·Communication based on USB Interface第12-13页
   ·LabView to program instruments第13页
   ·VISA as a means to control instruments第13页
   ·Nature of the problem第13-14页
Chapter 3 Hardware Handler Prototype第14-21页
   ·Introduction第14页
   ·Modeling the handler第14-17页
     ·Data Structure第14-15页
     ·Instrument Operations第15-17页
   ·Routines Definition第17-18页
     ·Instrument Handler第17-18页
   ·Methodology第18-21页
     ·Design Description第19-20页
     ·Interaction in a Test system第20-21页
Chapter 4 Action Implementation第21-33页
   ·Introduction第21-22页
     ·Actions Basis第21-22页
     ·C Actions第22页
   ·APIs and Functions第22-24页
     ·Test System API第22-23页
     ·MFC API第23-24页
   ·VISA Implementation第24-27页
     ·Console Application第24页
     ·Opening a Session第24-25页
     ·Programming the VISA structure第25-26页
     ·Programming the Generic Class第26-27页
     ·Programming the Derived Class第27页
   ·NPLC第27-29页
     ·Resolution for DC Measurements第28-29页
     ·Programming the Internal Function第29页
   ·Action Definition第29-33页
     ·Obtaining USB address第30页
     ·Loading the hardware handler第30-31页
     ·Linking Routines to functions第31-32页
     ·Summary第32-33页
Chapter 5 Experiments and Results第33-36页
   ·Measuring ACI Test第33页
   ·Measuring ACV Test第33-34页
   ·Measuring DCI Test第34页
   ·Measuring DCV Test第34页
   ·Comparison of Models第34-36页
     ·Advantages第35页
     ·Disadvantages第35-36页
Conclusions and further work第36-37页
References第37-39页
Glossary第39-40页
Acknowledgements第40页

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