| 摘要 | 第1-5页 |
| Abstract | 第5-9页 |
| 第1章 引言 | 第9-26页 |
| ·课题背景和意义 | 第9-10页 |
| ·金属塑性形变过程中组织结构的演变 | 第10-13页 |
| ·晶体的宏观分裂 | 第10页 |
| ·晶体的微观分裂 | 第10-13页 |
| ·形变位错结构与晶体取向的关系 | 第13-17页 |
| ·形变位错结构与滑移模式的关系 | 第17-21页 |
| ·应变路径与位错来源 | 第21-23页 |
| ·本课题的研究目的与内容 | 第23-26页 |
| ·面心立方金属形变位错界面 | 第24页 |
| ·形变位错界面中的位错来源 | 第24-26页 |
| 第2章 电镜技术的应用与样品的制备 | 第26-41页 |
| ·透射电镜技术的应用 | 第26-32页 |
| ·表征位错结构的形貌特征 | 第26页 |
| ·利用菊池花样技术测定晶体取向 | 第26-27页 |
| ·测定平面扩展界面（GNBs）的法向 | 第27-29页 |
| ·利用双束衍射技术测定位错的 Burgers 矢量 | 第29-31页 |
| ·测定位错线的方向 | 第31-32页 |
| ·扫描电镜技术的应用 | 第32-33页 |
| ·本课题中使用的显微设备及样品的制备 | 第33-34页 |
| ·透射电镜及样品的制备 | 第33页 |
| ·扫描电镜及样品的制备 | 第33页 |
| ·偏光显微镜样品的制备 | 第33-34页 |
| ·纯铝样品的制备 | 第34-36页 |
| ·纯镍样品的制备 | 第36-38页 |
| ·透射电镜图像与扫描电镜图像的比较 | 第38-41页 |
| 第3章 轧制多晶纯铝的位错结构 | 第41-53页 |
| ·本章引论 | 第41-42页 |
| ·纯铝中的位错胞结构 | 第42-48页 |
| ·轧制 10%样品的位错结构 | 第42-46页 |
| ·轧制 16%样品的位错结构 | 第46-47页 |
| ·轧制 20%样品的位错结构 | 第47-48页 |
| ·纯铝中的 GNBs 结构 | 第48-52页 |
| ·本章小结 | 第52-53页 |
| 第4章 形变柱状晶纯镍的位错结构 | 第53-74页 |
| ·本章引论 | 第53页 |
| ·纯镍中的位错胞结构 | 第53-64页 |
| ·拉伸样品的位错胞结构 | 第53-55页 |
| ·轧制样品的位错胞结构 | 第55-60页 |
| ·位错胞界面的性质 | 第60-64页 |
| ·纯镍中的 GNB 结构 | 第64-67页 |
| ·改变应变路径对位错结构的影响 | 第67-70页 |
| ·面心立方金属的形变位错结构 | 第70-73页 |
| ·轧制纯铜的形变位错结构 | 第70-71页 |
| ·铝、镍和铜位错结构的比较 | 第71-73页 |
| ·本章小结 | 第73-74页 |
| 第5章 轧制铝位错界面中的位错组成 | 第74-95页 |
| ·本章引论 | 第74页 |
| ·IDBs 的位错成分 | 第74-88页 |
| ·TD 面上的 IDBs | 第75-84页 |
| ·RD 面上的 IDBs | 第84-86页 |
| ·ND 面上的 IDBs | 第86-88页 |
| ·GNB 的位错成分 | 第88-93页 |
| ·本章小结 | 第93-95页 |
| 第6章 计算界面位错组成的方法研究 | 第95-105页 |
| ·本章引论 | 第95页 |
| ·计算 Schmid 因子 | 第95-96页 |
| ·利用 Frank 公式计算位错组成 | 第96-104页 |
| ·计算 IDBs 的位错组成 | 第96-97页 |
| ·计算 GNBs 的位错组成 | 第97-104页 |
| ·本章小结 | 第104-105页 |
| 第7章 结论 | 第105-107页 |
| 参考文献 | 第107-113页 |
| 致谢 | 第113-115页 |
| 个人简历 | 第115页 |