| 摘要 | 第1-7页 |
| Abstract | 第7-12页 |
| 第一章 引言 | 第12-19页 |
| ·遥感及高光谱遥感技术 | 第12-13页 |
| ·高光谱遥感监测病虫害的原理 | 第13页 |
| ·国内外高光谱遥感在监测植物病、虫、肥胁迫中的应用 | 第13-17页 |
| ·作物叶绿素含量、叶绿素密度和高光谱数据之间关系的研究 | 第13-14页 |
| ·作物缺素状态下高光谱特征分析 | 第14-15页 |
| ·作物受虫害胁迫后的光谱特征分析 | 第15-16页 |
| ·作物受病害胁迫后的光谱特征分析 | 第16-17页 |
| ·高光谱遥感应用于监测作物病虫肥胁迫中存在的问题 | 第17页 |
| ·"同物异谱"和"异物同谱"现象 | 第17页 |
| ·特征波段的选择 | 第17页 |
| ·本试验的目的和意义 | 第17-19页 |
| ·实验目的 | 第17页 |
| ·实验意义 | 第17-18页 |
| ·实验设计 | 第18-19页 |
| 第二章 玉米受玉米弯孢菌叶斑病危害后的光谱特征变化及产量损失研究 | 第19-42页 |
| ·材料与方法 | 第20-23页 |
| ·试验材料 | 第20页 |
| ·接菌的时间、菌量和方法 | 第20页 |
| ·光谱测量仪器及全球定位系统仪的测量方法和计算公式 | 第20-21页 |
| ·测量光谱时玉米所处的生育期和天气情况 | 第21页 |
| ·弯孢菌叶斑病病情指数计算和调查方法 | 第21-22页 |
| ·叶绿素含量的测定仪器、方法和公式 | 第22页 |
| ·收获时产量及产量损失率的计算方法 | 第22页 |
| ·植被指数的计算方法 | 第22-23页 |
| ·数据处理 | 第23页 |
| ·结果与分析 | 第23-40页 |
| ·不同时期健康玉米的光谱特征 | 第23-26页 |
| ·接种玉米弯孢菌后不同生育期不同处理玉米的光谱特征和病情指数的关系 | 第26-29页 |
| ·玉米弯孢菌叶斑病危害后玉米冠层光谱敏感波段的选择 | 第29-30页 |
| ·接种玉米弯孢菌后各时期植被指数和病情指数的相关性分析 | 第30-37页 |
| ·米弯孢菌病感染后玉米各生育期叶片叶绿素含量的变化与植被指数相关性分析 | 第37-38页 |
| ·玉米弯孢菌侵染后产量损失率与各时期光谱特征、植被指数的分析 | 第38-40页 |
| ·结论与讨论 | 第40-42页 |
| 第三章 玉米受亚洲玉米螟为害后的冠层光谱特征变化及产量损失研究 | 第42-52页 |
| ·材料与方法 | 第42-43页 |
| ·试验材料 | 第42页 |
| ·试验设计和光谱测量方法 | 第42-43页 |
| ·叶绿素和植被指数的测定 | 第43页 |
| ·玉米为害的食叶级别测量方法 | 第43页 |
| ·小区产量测定、计算及数据处理 | 第43页 |
| ·结果与分析 | 第43-51页 |
| ·不同时期健康玉米的光谱特征 | 第43-44页 |
| ·接种玉米螟幼虫后不同时期各处理玉米食叶级别光谱特征的关系 | 第44-47页 |
| ·接种玉米螟幼虫后各时期叶绿素含量和光谱数据及植被指数的相关性分析 | 第47-49页 |
| ·接种玉米螟幼虫后产量损失率、产量和各时期光谱特征、植被指数的相关性分析 | 第49-50页 |
| ·玉米螟危害后玉米冠层光谱敏感波段的选择 | 第50-51页 |
| ·结论与讨论 | 第51-52页 |
| 第四章 总结论 | 第52-56页 |
| ·主要研究结论 | 第52-54页 |
| ·玉米弯孢菌叶斑病和亚洲玉米螟为害后光谱特征的分析 | 第52-53页 |
| ·亚洲玉米螟为害和玉米弯孢菌叶斑病为害后叶绿素变化的分析 | 第53页 |
| ·亚洲玉米螟为害和玉米弯孢菌叶斑病为害后产量损失和冠层光谱数据的分析 | 第53-54页 |
| ·亚洲玉米螟为害和玉米弯孢菌叶斑病为害后四种植被指数对食叶级别、病情指数及叶绿素含量的反演 | 第54页 |
| ·高光谱遥感在病虫害监测中的应用展望 | 第54-56页 |
| 参考文献 | 第56-60页 |
| 致谢 | 第60-61页 |
| 作者简历 | 第61页 |
