| 摘要 | 第1-6页 |
| Abstract | 第6-11页 |
| 第1章 绪论 | 第11-20页 |
| ·课题背景 | 第11-12页 |
| ·大规模集成电路验证技术研究现状 | 第12-17页 |
| ·激励生成技术 | 第14-15页 |
| ·覆盖评估 | 第15-17页 |
| ·测试技术 | 第17-18页 |
| ·课题研究的意义 | 第18-19页 |
| ·本文主要工作及章节安排 | 第19-20页 |
| 第2章 功能验证与测试技术 | 第20-30页 |
| ·功能验证 | 第20-24页 |
| ·功能验证的目的、作用和当前面临的主要问题 | 第21-23页 |
| ·基于覆盖率的功能验证方法 | 第23-24页 |
| ·仿真验证的基本方法 | 第24-26页 |
| ·黑盒验证 | 第24-25页 |
| ·白盒验证 | 第25页 |
| ·灰盒验证 | 第25-26页 |
| ·大规模集成电路设计中的测试技术 | 第26-29页 |
| ·测试技术概述 | 第26-28页 |
| ·基于DFT 的测试技术 | 第28页 |
| ·不基于DFT 的测试技术 | 第28-29页 |
| ·本章小结 | 第29-30页 |
| 第3章 Verilog 仿真环境的建立 | 第30-39页 |
| ·MCU 体系结构 | 第30页 |
| ·本款MCU 的特点 | 第30-33页 |
| ·存储器方面 | 第31页 |
| ·I/O 接口 | 第31页 |
| ·外设方面 | 第31-33页 |
| ·验证环境的建立 | 第33-38页 |
| ·MCU 的系统模型 | 第34-36页 |
| ·指令集解释器 | 第36页 |
| ·系统外部逻辑模型的建模 | 第36-37页 |
| ·各种测试激励的建立 | 第37-38页 |
| ·本章小结 | 第38-39页 |
| 第4章 功能验证与故障覆盖率分析 | 第39-61页 |
| ·MCU 系统模型的功能验证 | 第39页 |
| ·MCU 指令集和寻址方式的功能验证 | 第39-41页 |
| ·空闲模式和掉电模式的功能验证 | 第41-42页 |
| ·MCU 外设部分的功能验证 | 第42-48页 |
| ·MCU 测试向量的故障覆盖率分析 | 第48-60页 |
| ·故障模拟常用的故障模型 | 第48-53页 |
| ·故障检测和故障模拟 | 第53-56页 |
| ·Verifault-XL 故障仿真器和MCU 的故障模拟 | 第56-57页 |
| ·具体实现 | 第57-59页 |
| ·故障模拟结果分析 | 第59-60页 |
| ·本章小结 | 第60-61页 |
| 结论 | 第61-62页 |
| 参考文献 | 第62-65页 |
| 攻读学位期间发表的学术论文 | 第65-66页 |
| 致谢 | 第66页 |