摘要 | 第1-6页 |
Abstract | 第6-10页 |
第一章 前言 | 第10-22页 |
·有机涂层在防腐中的应用 | 第10页 |
·有机涂层防腐蚀机理和有机涂层劣化理论 | 第10-12页 |
·有机涂层防腐蚀的机理 | 第10-11页 |
·有机涂层劣化理论 | 第11-12页 |
·影响涂层保护性能和寿命的因素 | 第12-17页 |
·涂层本体的性质 | 第12-13页 |
·水渗透 | 第13-14页 |
·氧和离子渗透 | 第14页 |
·金属表面状态和预处理 | 第14-15页 |
·外部环境 | 第15-16页 |
·大气环境的影响 | 第15页 |
·温度和温度循环 | 第15-16页 |
·阴极极化 | 第16页 |
·干湿循环 | 第16-17页 |
·有机涂层劣化和涂层下金属腐蚀的研究方法 | 第17-20页 |
·电化学阻抗谱(EIS)方法 | 第17-18页 |
·扫描 Kelvin 探针(SKP)方法 | 第18-19页 |
·其他研究方法 | 第19页 |
·小结 | 第19-20页 |
·研究意义与主要内容 | 第20-22页 |
·研究意义 | 第20页 |
·研究主要内容 | 第20-22页 |
第二章 实验材料与装置 | 第22-26页 |
·涂层样品制备 | 第22页 |
·电化学测量装置和方法 | 第22-23页 |
·扫描 Kelvin 探针(SKP)装置和使用方法 | 第23-26页 |
·测试原理 | 第23-24页 |
·测试方法 | 第24-26页 |
第三章 全浸泡条件下涂层劣化行为的研究 | 第26-53页 |
·实验材料和实验条件 | 第26页 |
·结果与讨论 | 第26-51页 |
·裸露金属在浸泡过程中的开路电位和 EIS 演化 | 第26-27页 |
·涂层体系浸泡过程中开路电位的演化 | 第27-29页 |
·EIS 对涂层劣化过程的研究 | 第29-39页 |
·EIS 等效电路选择 | 第29-30页 |
·涂层体系浸泡过程中 EIS 及阻抗物理模型演化 | 第30-36页 |
·EIS 参数随浸泡时间的变化 | 第36-39页 |
·扫描Kelvin 探针对全浸泡条件下涂层劣化过程的研究 | 第39-47页 |
·扫描Kelvin 探针测量数据重现性验证 | 第39页 |
·干燥样品的 Volta 电位分布 | 第39-40页 |
·水渗透对 Volta 电位的影响 | 第40-42页 |
·浸泡过程中涂层体系 Volta 电位分布随时间的变化 | 第42-46页 |
·Volta 电位特征参数随时间的变化 | 第46-47页 |
·EIS 特征、开路电位和Volta 电位分布与涂层劣化过程相关性 | 第47-49页 |
·由 EIS 数据和 Volta 电位分布数据预测涂层下金属腐蚀速度 | 第49-51页 |
·本章小结 | 第51-53页 |
第四章 干湿循环条件下涂层劣化行为初步研究 | 第53-62页 |
·实验材料和实验条件 | 第53页 |
·结果与讨论 | 第53-60页 |
·干湿循环条件下样品 EIS 响应特征 | 第53-57页 |
·干湿循环条件下样品Volta电位响应特征 | 第57-58页 |
·干湿循环对水和离子在涂层内传输的影响 | 第58-60页 |
·本章小结 | 第60-62页 |
第五章 结论 | 第62-64页 |
·结论 | 第62-63页 |
·对后续工作的建议 | 第63-64页 |
参考文献 | 第64-71页 |
致谢 | 第71页 |