| 摘要 | 第1-5页 |
| ABSTRACT | 第5-10页 |
| 第一章 绪论 | 第10-14页 |
| ·空间光调制器的基本结构与分类 | 第10-12页 |
| ·液晶在空间光调制器中的应用 | 第12页 |
| ·本文研究的意义和内容 | 第12-14页 |
| 第二章 光寻址透射式液晶空间光调制器 | 第14-21页 |
| ·调制器的结构设计及工作原理 | 第14-19页 |
| ·结构设计 | 第14-15页 |
| ·液晶的相位调制 | 第15-17页 |
| ·液晶的振幅调制 | 第17-19页 |
| ·核心器件和关键问题 | 第19-21页 |
| ·紫外光敏薄膜光电性能的要求 | 第20页 |
| ·液晶层光电性能的要求 | 第20页 |
| ·紫外光导薄膜与液晶层的匹配 | 第20-21页 |
| 第三章 掺杂ZnO 薄膜制备 | 第21-34页 |
| ·氧化锌 | 第21-25页 |
| ·基本性质 | 第21-23页 |
| ·氧化锌掺杂机理 | 第23-24页 |
| ·氧化锌薄膜紫外光敏性能研究现状 | 第24-25页 |
| ·超声喷雾热解法 | 第25-29页 |
| ·薄膜生长机制 | 第25-27页 |
| ·超声喷雾热解法的优点 | 第27页 |
| ·实验装置及样品制备 | 第27-29页 |
| ·溶胶凝胶法 | 第29-34页 |
| ·溶胶凝胶法生长机制 | 第29-30页 |
| ·工艺过程 | 第30-32页 |
| ·实验装置及样品制备 | 第32-34页 |
| 第四章 掺杂ZnO 薄膜电光特性表征与测试 | 第34-46页 |
| ·喷雾热解法制备薄膜样品测试分析 | 第34-38页 |
| ·掺杂元素对薄膜光电性能的影响 | 第34-36页 |
| ·薄膜透射光谱的测试与分析 | 第34-36页 |
| ·表面形貌测试和表征 | 第36页 |
| ·薄膜紫外光敏特性测试与分析 | 第36-38页 |
| ·溶胶凝胶法制备氧化锌薄膜性能测试与分析 | 第38-45页 |
| ·掺杂元素对薄膜光电特性的影响 | 第38-40页 |
| ·薄膜透射光谱测试与分析 | 第38-39页 |
| ·掺杂元素对紫外光敏特性的影响 | 第39-40页 |
| ·掺Cu 比例对薄膜光电特性的影响 | 第40-42页 |
| ·掺Cu 比例对薄膜透射光谱的影响 | 第40页 |
| ·掺Cu 比例对薄膜紫外光敏特性的影响 | 第40-41页 |
| ·掺Cu 比例对薄膜取向的影响 | 第41-42页 |
| ·退火温度对薄膜表面形貌的影响 | 第42-43页 |
| ·优化工艺参数后的掺Cu 氧化锌薄膜的紫外响应特性 | 第43-45页 |
| ·时间响应特性 | 第43-45页 |
| ·本章小结 | 第45-46页 |
| 第五章 PDLC 薄膜的研制 | 第46-59页 |
| ·PDLC 的制备原理和研究现状 | 第46-47页 |
| ·PDLC 膜的制备 | 第47-49页 |
| ·实验材料 | 第47页 |
| ·仪器设备 | 第47页 |
| ·PDLC 薄膜制备 | 第47-49页 |
| ·PDLC 的光电性能测试与表征 | 第49-57页 |
| ·PDLC 驱动电路设计 | 第49页 |
| ·PDLC 光电性能测试平台 | 第49-50页 |
| ·液晶含量对电光特性曲线的影响 | 第50-51页 |
| ·表面活性剂对电光特性曲线的影响 | 第51-54页 |
| ·薄膜厚度对PDLC 薄膜U-T 曲线的影响 | 第54页 |
| ·不同光强下的紫外曝光 | 第54-55页 |
| ·不同温度下聚合的PDLC 薄膜的电光特性曲线 | 第55-56页 |
| ·驱动频率对电光特性的影响 | 第56-57页 |
| ·频率对U-T 特性曲线的影响 | 第56-57页 |
| ·频率对阻抗、电容的影响 | 第57页 |
| ·本章小结 | 第57-59页 |
| 第六章 液晶与紫外光敏层光电性能的匹配 | 第59-63页 |
| ·空间光调制器的等效电路分析 | 第59页 |
| ·液晶与紫外光敏层阻抗的匹配 | 第59-63页 |
| ·液晶阻抗 | 第60页 |
| ·氧化锌阻抗 | 第60-62页 |
| ·阻抗匹配验证 | 第62-63页 |
| 第七章 总结 | 第63-64页 |
| 致谢 | 第64-65页 |
| 参考文献 | 第65-68页 |
| 攻读硕士期间的研究成果 | 第68-69页 |