| 中文摘要 | 第1-5页 |
| 英文摘要 | 第5-9页 |
| 1 绪论 | 第9-20页 |
| ·论文研究的目的和意义 | 第9-11页 |
| ·国内外研究现状 | 第11-19页 |
| ·防污闪措施的研究 | 第11-14页 |
| ·绝缘子结构、型式对污闪特性的影响 | 第14-17页 |
| ·绝缘子有效爬电系数的研究 | 第17-18页 |
| ·目前国内外对局部电弧发展过程的研究 | 第18-19页 |
| ·本论文研究的主要内容 | 第19-20页 |
| 2 试验装置及方法 | 第20-29页 |
| ·试品 | 第20-21页 |
| ·试验装置 | 第21-23页 |
| ·试验方法 | 第23-26页 |
| ·试品染污 | 第23页 |
| ·试品湿润及加压方法 | 第23-24页 |
| ·闪络电压的确定 | 第24-25页 |
| ·污闪放电过程的拍摄 | 第25-26页 |
| ·特征量及测量方法 | 第26-28页 |
| ·表征污秽绝缘子运行状态的特征量 | 第26页 |
| ·盐密/灰密测量 | 第26-28页 |
| ·小结 | 第28-29页 |
| 3 不同型式绝缘子的交流污闪特性及有效爬电系数 | 第29-42页 |
| ·ρESDD 对不同型式绝缘子3 片串交流污闪电压的影响 | 第29-33页 |
| ·绝缘子结构、型式对染污绝缘子闪络特性的影响 | 第33-35页 |
| ·不同型式绝缘子沿爬电距离的闪络电压梯度 | 第35-37页 |
| ·不同型式绝缘子的有效爬电系数 | 第37-41页 |
| ·不同型式绝缘子防污性能的比较 | 第41-42页 |
| 4 不同型式绝缘子串的污闪过程分析 | 第42-53页 |
| ·试验结果 | 第42页 |
| ·不同型式绝缘子串电弧发展过程 | 第42-52页 |
| ·本章小结 | 第52-53页 |
| 5 结论 | 第53-55页 |
| 致谢 | 第55-56页 |
| 参考文献 | 第56-60页 |
| 附录 | 第60-62页 |
| 独创性声明 | 第62页 |
| 学位论文版权使用授权书 | 第62页 |