| 第1章 引言 | 第1-22页 |
| ·压电陶瓷材料与膜材料 | 第8-13页 |
| ·锆钛酸铅二元系压电陶瓷(PZT) | 第8-10页 |
| ·压电陶瓷基本性能参数 | 第10-12页 |
| ·陶瓷薄/厚膜制备技术与应用 | 第12-13页 |
| ·电泳沉积技术 | 第13-20页 |
| ·电泳沉积技术概述 | 第13-14页 |
| ·基于 DLVO 理论的电泳沉积技术基本原理 | 第14-17页 |
| ·电泳沉积技术的进展与应用 | 第17-20页 |
| ·选题背景和主要研究内容 | 第20-22页 |
| ·选题背景及意义 | 第20-21页 |
| ·主要研究内容 | 第21-22页 |
| 第2章 PZT 粉末的电泳沉积过程研究 | 第22-36页 |
| ·引言 | 第22-23页 |
| ·实验过程 | 第23-25页 |
| ·PZT 原料粉末 | 第23页 |
| ·PZT 粉末悬浮液的制备 | 第23-24页 |
| ·电泳沉积实验装置 | 第24-25页 |
| ·实验分析方法 | 第25页 |
| ·实验结果与讨论 | 第25-34页 |
| ·悬浮液质量研究 | 第25-27页 |
| ·电压对PZT 厚膜质量的影响 | 第27-29页 |
| ·PZT 厚膜质量随沉积时间的变化 | 第29-33页 |
| ·沉积时间与PZT 厚膜厚度的关系 | 第33-34页 |
| ·X 射线衍射分析 | 第34页 |
| ·小结 | 第34-36页 |
| 第3章 助烧剂添加对PZT 粉末电泳沉积厚膜的影响 | 第36-46页 |
| ·引言 | 第36-38页 |
| ·引入助烧剂的必要性 | 第36页 |
| ·助烧剂的选择 | 第36-38页 |
| ·实验过程 | 第38页 |
| ·实验结果与讨论 | 第38-44页 |
| ·悬浮液质量研究 | 第38-39页 |
| ·助烧剂对PZT 粉末电泳沉积厚膜的影响 | 第39-44页 |
| ·小结 | 第44-46页 |
| 第4章 电泳沉积 PZT 厚膜的烧结研究 | 第46-55页 |
| ·引言 | 第46页 |
| ·不加助烧剂的 PZT 厚膜的烧结研究 | 第46-47页 |
| ·加入助烧剂的 PZT 厚膜的烧结研究 | 第47-51页 |
| ·烧结实验过程 | 第47-48页 |
| ·X 射线衍射分析 | 第48-49页 |
| ·SEM 微观形貌分析 | 第49-51页 |
| ·溶胶浸润后的 PZT 厚膜的烧结研究 | 第51-53页 |
| ·溶胶浸润与热处理实验过程 | 第51页 |
| ·X 射线衍射分析 | 第51-52页 |
| ·烧结后形貌分析 | 第52-53页 |
| ·小结 | 第53-55页 |
| 第5章 PZT 厚膜的电学性能研究 | 第55-59页 |
| ·引言 | 第55页 |
| ·实验过程 | 第55-56页 |
| ·实验结果与讨论 | 第56-58页 |
| ·小结 | 第58-59页 |
| 第6 章 结论 | 第59-61页 |
| ·研究总结 | 第59-60页 |
| ·需进一步开展的工作 | 第60-61页 |
| 参考文献 | 第61-64页 |
| 致谢 | 第64页 |
| 声明 | 第64-65页 |
| 个人简历、 在学期间发表的学术论文与研究成果 | 第65页 |