| 目录 | 第1-10页 |
| 第一章 绪论 | 第10-15页 |
| ·闪光照相系统散射的研究现状 | 第10-14页 |
| ·高能闪光照相系统基本照相布局、器件 | 第10-11页 |
| ·散射对图像质量的影响 | 第11-12页 |
| ·散射对线吸收系数的影响 | 第12-13页 |
| ·散射的处理 | 第13-14页 |
| ·存在的主要问题 | 第14页 |
| ·散射问题研究的可行性和意义 | 第14-15页 |
| 第二章 散射理论 | 第15-24页 |
| ·X光子与材料相互作用 | 第15-18页 |
| ·光电效应(Photoelectric effect) | 第15-16页 |
| ·康普顿散射(Compton effect) | 第16页 |
| ·电子对生成(Pair production) | 第16-17页 |
| ·三种作用的相互关系 | 第17-18页 |
| ·散射的解析分析 | 第18-22页 |
| ·成象平面的最小直穿辐射强度 | 第19页 |
| ·客体对辐射的散射 | 第19-20页 |
| ·后保护器对辐射的散射 | 第20-21页 |
| ·客体—保护器系统的直散比 | 第21-22页 |
| ·散射对系统光程的影响 | 第22页 |
| ·散射扣除理论 | 第22-24页 |
| 第三章 闪光照相系统散射分析的数值模拟 | 第24-47页 |
| ·影响散射的参数分析 | 第24-34页 |
| ·系统主准直角的影响 | 第24-26页 |
| ·光源参数的影响 | 第26-27页 |
| ·客体光程的影响 | 第27-31页 |
| ·后保护器参数的影响 | 第31-33页 |
| ·记录面相对后保护器距离的影响 | 第33-34页 |
| ·系统器件的散射分析 | 第34-37页 |
| ·FTO与后保护器的散射及其分层分析 | 第34-37页 |
| ·后保护器的散射及实验对比 | 第37-46页 |
| ·照相系统及实验原理 | 第37-38页 |
| ·单后保护器系统 | 第38-41页 |
| ·含客体系统 | 第41-45页 |
| ·结论和讨论 | 第45-46页 |
| ·本章小结 | 第46-47页 |
| 第四章 闪光照相系统的散射扣除与降低技术 | 第47-66页 |
| ·散射扣除技术 | 第47-52页 |
| ·多孔准直器扣除散射的数值模拟 | 第47-52页 |
| ·散射降低技术 | 第52-65页 |
| ·附加准直器降散射研究 | 第52-58页 |
| ·多孔网栅的降散射研究 | 第58-65页 |
| ·本章小结 | 第65-66页 |
| 第五章 结论 | 第66-69页 |
| 致谢 | 第69-70页 |
| 参考文献 | 第70-72页 |