多孔阳极氧化铝模板与镍纳米线组装体系的研究
| 0 前言 | 第1-10页 |
| 1 文献综述 | 第10-20页 |
| ·纳米结构体系特点及其制备方法 | 第10-13页 |
| ·纳米结构体系的分类 | 第10页 |
| ·纳米结构的特性 | 第10-12页 |
| ·纳米材料的应用前景 | 第12-13页 |
| ·纳米材料的制备方法 | 第13页 |
| ·样模法 | 第13-15页 |
| ·模板分类 | 第14页 |
| ·AAO样模法的优点 | 第14-15页 |
| ·应用 | 第15-19页 |
| ·磁学方面的研究与应用 | 第15-17页 |
| ·光学方面的研究及应用 | 第17-18页 |
| ·在束状微电极的应用 | 第18页 |
| ·在太阳能选择吸收膜的应用 | 第18页 |
| ·其他方面的应用 | 第18-19页 |
| ·结束语 | 第19-20页 |
| 2 基本原理 | 第20-26页 |
| ·阳极氧化铝膜的研究进展 | 第20-24页 |
| ·阳极氧化铝膜的结构模型 | 第20页 |
| ·阳极氧化铝膜的形成机理 | 第20-21页 |
| ·铝的阳极氧化机理 | 第21-22页 |
| ·多孔阳极氧化铝膜的动力学模型 | 第22-24页 |
| ·阻挡层的控制过程 | 第22-23页 |
| ·离子迁移过程 | 第23-24页 |
| ·多孔层的形成过程 | 第24页 |
| ·电沉积方法的发展历程 | 第24-26页 |
| ·电沉积过程的步骤 | 第24-25页 |
| ·电沉积过程的影响因素 | 第25-26页 |
| 3 试验部分 | 第26-33页 |
| ·实验材料 | 第26页 |
| ·试验药品 | 第26页 |
| ·试验仪器及设备 | 第26-27页 |
| ·试验方法 | 第27-31页 |
| ·铝表面预处理 | 第28页 |
| ·铝阳极氧化 | 第28-29页 |
| ·电沉积 | 第29-30页 |
| ·电解液的配制 | 第29页 |
| ·电沉积过程 | 第29-30页 |
| ·膜的剥离 | 第30-31页 |
| ·逆电剥离法 | 第30-31页 |
| ·化学溶解法 | 第31页 |
| ·AAO模板与组装体系的表征 | 第31-32页 |
| ·AAO模板的表征 | 第31-32页 |
| ·AAO模板与镍纳米线组装体系的表征 | 第32页 |
| ·AAO模板与镍纳米线组装体系光吸收性能测试 | 第32-33页 |
| 4 试验结果及讨论 | 第33-54页 |
| ·AAO模板的影响因素研究 | 第33-39页 |
| ·不同浓度硫酸膜电流随时间的变化 | 第33页 |
| ·硫酸浓度对阻挡层形成过程的影响 | 第33-34页 |
| ·氧化条件对膜厚度的影响 | 第34-36页 |
| ·氧化条件对磷酸膜微观结构的影响 | 第36-39页 |
| ·多孔阳极氧化铝膜的表征 | 第39-43页 |
| ·EDX能谱分析 | 第39-40页 |
| ·X射线衍射分析 | 第40-41页 |
| ·AAO模板的微观形貌 | 第41-43页 |
| ·电沉积镍金属微粒的电化学行为研究 | 第43-44页 |
| ·电沉积镍金属微粒的影响因素研究 | 第44-48页 |
| ·不同的膜厚对沉积电流的影响 | 第45页 |
| ·沉积温度对沉积电流的影响 | 第45-46页 |
| ·沉积电压对沉积电流的影响 | 第46-47页 |
| ·电沉积溶液分析 | 第47-48页 |
| ·纳米线与多孔阳极氧化铝膜构成组装体系的表征 | 第48-52页 |
| ·组装体系的形貌表征 | 第48-50页 |
| ·组装体系的X射线衍射图谱 | 第50-51页 |
| ·组装体系的电子探针图谱 | 第51-52页 |
| ·荧光光谱分析 | 第52-54页 |
| 5 结论 | 第54-55页 |
| 参考文献 | 第55-58页 |
| 论文投稿 | 第58-59页 |
| 致谢 | 第59-60页 |
| 附录1 | 第60页 |
| 附录2 | 第60-61页 |
| 附录3 | 第61页 |
| 附录4 | 第61-62页 |
| 附录5 | 第62页 |
| 附录6 | 第62-63页 |
| 附录7 | 第63页 |
| 附录8 | 第63页 |
| 附录9 | 第63-64页 |
| 附录10 | 第64页 |
| 附录11 | 第64-65页 |
| 附录12 | 第65-66页 |
| 附录13 | 第66-67页 |
| 附录14 | 第67-69页 |
