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微波多芯片组件中互连的仿真研究

摘要第1-7页
ABSTRACT第7-9页
目录第9-11页
第一章 绪论第11-19页
   ·引言第11-13页
   ·微波多芯片组件(MMCM)的几种互连技术第13-15页
     ·垂直通孔(Via)互连第13-14页
     ·倒装焊(Flip-Chip)互连第14页
     ·球栅阵列(BGA)互连第14-15页
     ·叠层通孔的高密度互连第15页
   ·关于通孔互连(Via Interconnect)的理论分析方法第15-17页
   ·本文的主要工作第17-18页
   ·本章小结第18-19页
第二章 垂直通孔互连的矩阵束矩量法仿真第19-48页
   ·理论准备第19-27页
     ·矩量法(Moment Method)原理第19-21页
     ·矩阵束方法(Matrix-pencil Method)原理第21-25页
     ·范德蒙(Vandermonde)方程组的解法第25-27页
   ·矩阵束矩量法(Matrix-penciled Moment Method)原理第27-32页
     ·通孔散射参数提取原理描述第27-29页
     ·矩阵束矩量法原理描述第29-32页
   ·多层封装环境中垂直互连通孔的矩阵束矩量法分析第32-47页
     ·对分段正弦函数的处理第33-34页
     ·对格林函数的处理第34-38页
     ·数值结果第38-47页
   ·结论第47-48页
第三章 微波多芯片组件中通孔散射特性与微带线连接角的关系研究第48-58页
   ·问题的由来第48页
   ·通孔传播特性的仿真结果第48-57页
     ·微带线连接角为任意角度时通孔散射参数的变化情况第48-55页
     ·微带线连接角为任意角度时通孔散射参数相位的变化情况第55-56页
     ·仿真结果与实验结果的比较第56-57页
   ·结论第57-58页
第四章 存在屏蔽通孔情况下信号通孔散射特性的仿真研究第58-65页
   ·引言第58页
   ·存在屏蔽通孔情况下信号通孔散射特性的仿真结果第58-63页
   ·结论第63-65页
第五章 时域有限差分法分析互连的基本理论第65-77页
   ·引言第65页
   ·时域有限差分法第65-73页
     ·有限差分的概念第65-66页
     ·时域有限差分法的基本原理及其高精确性体现第66-70页
     ·时域有限差分法优良的结构普适性第70-71页
     ·时域有限差分法的其它关键问题第71-73页
   ·时域有限差分法在多层电路互连分析中的应用第73-76页
     ·时域有限差分法在多层电路互连分析中的应用特点第73-74页
     ·时域有限差分法进行互连分析的基本方法第74-76页
   ·本章小结第76-77页
第六章 倒装焊互连的时域有限差分法仿真第77-88页
   ·引言第77页
   ·时域有限差分法对倒装焊互连的分析第77-84页
     ·焊盘周围的环境因素发生变化时,焊盘散射特性的变化情况第77-81页
     ·焊盘的几何尺寸变化时,焊盘散射特性的变化情况第81-84页
   ·微波网络理论的辅助分析第84-87页
   ·结论第87-88页
第七章 总结与展望第88-93页
   ·通孔的种类与作用第88页
   ·垂直通孔互连的研究意义第88-90页
   ·矩阵束矩量法与时域有限差分法的比较第90-91页
     ·两种方法在原理上的比较第90页
     ·两种方法在计算机实现上的比较第90-91页
   ·关于通孔互连的一些函待解决的问题第91-93页
参考文献第93-100页
作者在攻读博士学位期间发表和录用的论文第100-102页
致谢第102页

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