AWG器件性能与工艺误差关系的理论分析
| 第一章 绪论 | 第1-20页 |
| 1．1 全光通信网络的不断发展 | 第6-11页 |
| 1．1．1 全光网的概念及其优势 | 第6-7页 |
| 1．1．2 全光网的复用方式 | 第7-10页 |
| 1．1．3 全光网的发展 | 第10-11页 |
| 1．2 WDM网络中的波分复用器件 | 第11-14页 |
| 1．2．1 波分复用器件的种类 | 第11-12页 |
| 1．2．2 阵列波导光栅的特点及其应用 | 第12-14页 |
| 1．3 器件制作的材料选择 | 第14-16页 |
| 1．3．1 不同材料的比较 | 第14-15页 |
| 1．3．2 SOI的制作方法 | 第15-16页 |
| 1．3．3 基于SOI材料的AWG器件 | 第16页 |
| 1．4 本论文的研究内容 | 第16-18页 |
| 参考文献 | 第18-20页 |
| 第二章 AWG的基本原理与性能指标 | 第20-31页 |
| 2．1 阵列波导光栅的基本原理 | 第20-24页 |
| 2．1．1 Rowland圆原理 | 第20-21页 |
| 2．1．2 阵列波导光栅的工作原理 | 第21-24页 |
| 2．2 波分复用／解复用器的性能指标 | 第24-27页 |
| 2．2．1 波分复用光传输系统的有关技术标准 | 第24-25页 |
| 2．2．2 复用器的主要性能指标 | 第25-26页 |
| 2．2．3 解复用器的主要性能指标 | 第26-27页 |
| 2．3 阵列波导光栅的性能参数定义 | 第27-29页 |
| 2．4 结论 | 第29-30页 |
| 参考文献 | 第30-31页 |
| 第三章 串扰性能的容差分析及设计改善 | 第31-40页 |
| 3．1 AWG器件串扰性能的简单介绍 | 第31页 |
| 3．2 串扰分析的数学模型 | 第31-34页 |
| 3．3 影响器件串扰性能的因素 | 第34-36页 |
| 3．3．1 设计因素 | 第34-35页 |
| 3．3．2 光路径长度误差的影响 | 第35-36页 |
| 3．4 AWG器件串扰性能的改善 | 第36-38页 |
| 3．5 结论 | 第38-39页 |
| 参考文献 | 第39-40页 |
| 第四章 插入损耗的分析和改善 | 第40-61页 |
| 4．1 硅波导的传输损耗 | 第40-51页 |
| 4．1．1 波导传输损耗的简单介绍 | 第40-42页 |
| 4．1．2 波导的散射损耗分析 | 第42-49页 |
| 4．1．3 如何减小波导的散射损耗 | 第49-51页 |
| 4．2 不同波导之间的耦合损耗 | 第51-59页 |
| 4．2．1 耦合损耗的简单介绍 | 第51-54页 |
| 4．2．2 使用渐变过渡区降低耦合损耗 | 第54-59页 |
| 4．3 小结 | 第59-60页 |
| 参考文献 | 第60-61页 |
| 第五章 其他需要考虑的问题 | 第61-70页 |
| 5．1 AWG的偏振相关性 | 第61-64页 |
| 5．2 AWG的通带特性 | 第64-66页 |
| 5．3 温度特性 | 第66页 |
| 5．4 输入／输出波导与光纤的耦合 | 第66-67页 |
| 5．5 小结 | 第67-69页 |
| 参考文献 | 第69-70页 |
