| 第一章 面阵CCD在工业非接触测量中的应用 | 第1-9页 |
| 第一节 CCD简介 | 第4-5页 |
| 第二节 CCD非接触测量的国内外现状 | 第5-7页 |
| 第三节 面阵CCD工业非接触测量系统的组成及工业应用中需解决的问题 | 第7-9页 |
| 第二章 面阵CCD基片分类机测量系统简介 | 第9-21页 |
| 第一节 面阵CCD基片分类机方案的选定 | 第9-10页 |
| 第二节 面阵CCD基片分类机测量系统的组成 | 第10-11页 |
| 第三节 面阵CCD图像采集系统 | 第11-16页 |
| 第四节 光学系统设计 | 第16-19页 |
| 第五节 测量软件系统 | 第19-21页 |
| 第三章 硬件系统的误差分析 | 第21-40页 |
| 第一节 机械结构误差 | 第21-24页 |
| 第二节 光学系统中的误差 | 第24-31页 |
| 第三节 CCD传感器引入的误差 | 第31-40页 |
| 第四章 系统软件算法分析 | 第40-79页 |
| 第一节 滤波 | 第40-49页 |
| 第二节 边缘检测 | 第49-60页 |
| 第三节 亚像素细分技术 | 第60-71页 |
| 第四节 面阵CCD基片分类机中图像测量的方法及精度 | 第71-79页 |
| 结束语 | 第79-81页 |
| 参考文献 | 第81-84页 |
| 致谢 | 第84页 |