| 中文摘要 | 第1-4页 |
| 英文摘要 | 第4-7页 |
| 第一章 绪论 | 第7-11页 |
| §1-1 引言 | 第7-8页 |
| §1-2 电器可靠性试验数据处理研究概况 | 第8-10页 |
| 1-2-1 大子样及小子样情形下数据处理研究现状 | 第8-9页 |
| 1-2-2 无失效数据情形下数据处理研究现状 | 第9页 |
| 1-2-3 加速寿命试验情形下数据处理研究现状 | 第9-10页 |
| §1-3 本文的研究内容 | 第10-11页 |
| 第二章 无失效数据情形下数据处理的研究 | 第11-23页 |
| §2-1 概述 | 第11页 |
| §2-2 威布尔分布场合下无失效数据的处理方法 | 第11-15页 |
| §2-3 无失效数据时可靠性特征量的点估计 | 第15-19页 |
| 2-3-1 Bayes统计推断的基本观点 | 第15页 |
| 2-3-2 Bayes方法对可靠性特征量估计的基本思想 | 第15页 |
| 2-3-3 累积失效概率P_i的Bayes估计 | 第15-17页 |
| 2-3-4 可靠性特征量的估计 | 第17-18页 |
| 2-3-5 计算算例 | 第18-19页 |
| §2-4 无失效数据时可靠性特征量的区间估计 | 第19-23页 |
| 2-4-1 指数分布时可靠性特征量的区间估计 | 第19-20页 |
| 2-4-2 威布尔分布时可靠性特征量的区间估计 | 第20-21页 |
| 2-4-3 计算算例 | 第21-23页 |
| 第三章 加速寿命试验数据处理的研究 | 第23-37页 |
| §3-1 概述 | 第23页 |
| §3-2 恒定应力加速寿命试验数据处理方法 | 第23-32页 |
| 3-2-1 点估计方法 | 第23-30页 |
| 3-2-2 区间估计方法 | 第30-32页 |
| §3-3 指数分布场合恒定应力加速寿命试验下可靠性特征量的点估计 | 第32-34页 |
| §3-4 威布尔分布场合恒定应力加速寿命试验下可靠性特征量的点估计 | 第34-37页 |
| 3-4-1 计算方法 | 第34-36页 |
| 3-4-2 计算算例 | 第36-37页 |
| 第四章 小子样时可靠性特征量的估计 | 第37-40页 |
| §4-1 概述 | 第37页 |
| §4-2 MLE的修正模型 | 第37-40页 |
| 4-2-1 MLE的修正模型 | 第37-38页 |
| 4-2-2 计算算例 | 第38-40页 |
| 第五章 电器可靠性试验数据处理软件 | 第40-45页 |
| 第六章 结论 | 第45-47页 |
| 参考文献 | 第47-49页 |
| 致谢 | 第49-50页 |
| 攻读学位期间所取得的相关科研成果 | 第50页 |
