| 摘要 | 第1-4页 |
| Abstract | 第4-6页 |
| 第一章 引言 | 第6-20页 |
| ·快电子能量损失谱学方法简介 | 第6-10页 |
| ·光学振子强度、广义振子强度和微分散射截面 | 第10-14页 |
| ·广义振子强度的实验测量方法及绝对化方法 | 第14-17页 |
| ·实验测量方法 | 第14-16页 |
| ·绝对化方法 | 第16-17页 |
| ·小结 | 第17-18页 |
| 参考文献 | 第18-20页 |
| 第二章 双原子分子电子能量损失谱的解谱方法研究 | 第20-28页 |
| ·研究背景 | 第20-22页 |
| ·解谱方法 | 第22-23页 |
| ·拟合函数 | 第22-23页 |
| ·目标函数 | 第23页 |
| ·解谱程序设计 | 第23-24页 |
| ·解谱方法的检验 | 第24-25页 |
| ·小结 | 第25-27页 |
| 参考文献 | 第27-28页 |
| 第三章 H2分子价壳层激发的广义振子强度研究 | 第28-42页 |
| ·研究现状 | 第28-29页 |
| ·实验及解谱方法 | 第29-31页 |
| ·Franck-Condon 因子的动量转移依赖特性 | 第31-35页 |
| ·广义振子强度的分析与讨论 | 第35-40页 |
| ·小结 | 第40-41页 |
| 参考文献 | 第41-42页 |
| 附录 | 第42-46页 |
| 总结与展望 | 第46-47页 |
| 硕士学位期间发表的论文 | 第47-48页 |
| 致谢 | 第48页 |