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立方BC2N中杂质行为和氮化铍光学性质的理论研究

内容提要第1-7页
第一章 绪论第7-18页
   ·超硬半导体材料第9-14页
     ·金刚石第9-10页
     ·立方氮化硼(c-BN)第10-11页
     ·B-C-N三元化合物的理论研究第11-14页
   ·半导体材料中的杂质和缺陷第14-16页
   ·本研究的目的第16-18页
第二章 基于密度泛函的第一性原理计算方法第18-45页
   ·绝热近似第18-22页
   ·密度泛函理论第22-27页
   ·交换关联近似(LDA和GGA)[18]第27-31页
   ·布洛赫(BLOCH)定理第31-32页
   ·能量的自洽计算第32-33页
   ·三维晶格振动的声子解[18]第33-42页
     ·动力学方程第33-35页
     ·线性响应理论[18]第35-42页
   ·缺陷形成能的计算第42-45页
     ·元素的化学势第42-43页
     ·形成能的概念第43-45页
第三章 立方BC2N杂质性质的研究第45-63页
   ·立方BC_2N的电子结构第47-48页
   ·立方BC_2N杂质的形成能第48-51页
   ·取代杂质(O_B、O_N、Ocl和Oc2)的态密度第51-52页
   ·不同压力下O-N缺陷的形成体积第52-53页
   ·氧取代氮杂质的能带结构与态密度第53-54页
   ·氧取代氮杂质的能带结构与态密度(O+1,-1)第54-56页
   ·氧取代氮杂质的光学性质第56-61页
   ·BC_2N间隙杂质(钴Co)的电子结构第61-62页
   ·本章结论第62-63页
第四章 氮化铍性质的研究第63-72页
   ·理论模型第63-64页
   ·能带结构第64-65页
   ·态密度第65-66页
   ·体弹模量随压强的变化第66-67页
   ·光学性质第67-69页
   ·声子谱第69-70页
   ·本章结论第70-72页
结论第72-74页
参考文献第74-78页
学术成果第78-79页
致谢第79-80页
中文摘要第80-83页
Abstract第83-85页

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