| 摘要 | 第1-5页 |
| Abstract | 第5-9页 |
| 第1章 绪论 | 第9-16页 |
| ·研究的目的和意义 | 第9-10页 |
| ·国内外研究现状 | 第10-14页 |
| ·混响室测试基础理论的研究 | 第10-11页 |
| ·混响室屏蔽效能测试技术的研究 | 第11-12页 |
| ·屏蔽壳体屏蔽效能的仿真研究 | 第12-14页 |
| ·本文研究内容与结构 | 第14-16页 |
| 第2章 混响室理论及电磁仿真软件FEKO简介 | 第16-29页 |
| ·混响室的基本结构与原理 | 第16-20页 |
| ·混响室的基本结构 | 第16-18页 |
| ·混响室的校准 | 第18-20页 |
| ·步进式校准 | 第18-20页 |
| ·连续激励式校准 | 第20页 |
| ·混响室的基本理论 | 第20-22页 |
| ·电磁仿真软件FEKO简介 | 第22-29页 |
| ·FEKO的基本原理与核心算法 | 第22-23页 |
| ·FEKO的优点 | 第23-24页 |
| ·FEKO的应用领域 | 第24-25页 |
| ·FEKO的组成模块 | 第25-26页 |
| ·CAD FEKO概述 | 第26-29页 |
| 第3章 小尺寸屏蔽壳体电磁耦合规律的实验分析 | 第29-47页 |
| ·测试系统及测试环境简介 | 第29-31页 |
| ·实验测试方法和步骤 | 第31-33页 |
| ·腔体内平均场强随频率的变化 | 第33-38页 |
| ·采用多点平均法时腔体内平均场强随频率的变化 | 第35-38页 |
| ·多点平均法时测试频率对腔体内平均场强的影响 | 第35-37页 |
| ·多点平均法时采样点数目对腔体内平均场强的影响 | 第37-38页 |
| ·采用单点平均法时腔体内平均场强随频率的变化 | 第38页 |
| ·测试方法重复性的研究 | 第38-40页 |
| ·采用多点平均时不同取样直线方式测试结果重复性的对比 | 第38-39页 |
| ·多点平均与单点平均测试方法重复性的对比 | 第39-40页 |
| ·外场测试方法的研究 | 第40-43页 |
| ·外场随频率的变化 | 第40-41页 |
| ·开孔是否面向天线对外场测试结果的影响 | 第41-42页 |
| ·探头距开孔的距离对外场测试结果的影响 | 第42-43页 |
| ·屏蔽体开孔尺寸参数对屏蔽效能的影响 | 第43-45页 |
| ·开孔长度或宽度的变化对腔体屏蔽效能的影响 | 第43-44页 |
| ·开孔形状对腔体屏蔽效能的影响 | 第44-45页 |
| ·小结 | 第45-47页 |
| 第4章 FEKO数值仿真分析 | 第47-54页 |
| ·取样点方式对屏蔽效能计算结果的影响 | 第48-49页 |
| ·平面波极化方向对屏蔽效能的影响 | 第49-50页 |
| ·屏蔽体开孔物理参数对屏蔽效能的影响 | 第50-52页 |
| ·小结 | 第52-54页 |
| 第5章 总结 | 第54-57页 |
| 参考文献 | 第57-61页 |
| 致谢 | 第61-62页 |
| 附录 研究生期间所发表的论文 | 第62页 |