| 摘要 | 第1-6页 |
| Abstract | 第6-10页 |
| 第一章 绪论 | 第10-12页 |
| 第二章 超导体特性及相关检测理论 | 第12-19页 |
| ·超导体特性简介 | 第12-13页 |
| ·相关检测理论 | 第13-19页 |
| ·锁定放大器 | 第14-15页 |
| ·相关检测理论及其应用于超导电阻测量的可行性 | 第15-19页 |
| 第三章 超导测量系统发展现状及现有超导体电阻测量方案 | 第19-24页 |
| ·超导测量系统的国内外发展现状 | 第19-20页 |
| ·现有超导体电阻测量方案 | 第20-24页 |
| ·采用高精度电压表进行测量 | 第20-21页 |
| ·采用高精度数据采集卡配合计算机软件处理进行测量 | 第21-22页 |
| ·使用高温超导材料特性测试装置进行测量 | 第22-24页 |
| 第四章 系统总体设计方案 | 第24-26页 |
| ·系统待完成功能 | 第24页 |
| ·系统构成 | 第24-26页 |
| 第五章 硬件设计方案 | 第26-52页 |
| ·电流源电路及超导材料部分设计 | 第26-28页 |
| ·电流源电路设计 | 第26-27页 |
| ·超导材料电路设计 | 第27-28页 |
| ·超导电阻测量电路设计 | 第28-46页 |
| ·超导电阻测量电路的信号通道设计 | 第28-34页 |
| ·超导电阻测量电路的参考通道设计 | 第34-35页 |
| ·DSP芯片及其外围电路设计 | 第35-46页 |
| ·超导环境温度测量电路设计 | 第46-52页 |
| ·热电偶及其温度补偿电路设计 | 第46-48页 |
| ·A/D转换器简介 | 第48-50页 |
| ·单片机及其与A/D转换器接口电路设计 | 第50-52页 |
| 第六章 系统的开发平台及软件设计 | 第52-70页 |
| ·系统开发平台 | 第52-53页 |
| ·CCS集成开发环境 | 第52页 |
| ·Keil uVision2集成开发环境 | 第52-53页 |
| ·DSP程序设计 | 第53-67页 |
| ·DSP芯片的初始化 | 第54-56页 |
| ·A/D转换器程序设计 | 第56-58页 |
| ·多通道缓冲串口McBSP程序设计 | 第58-60页 |
| ·单片机与DSP的连接设计 | 第60-61页 |
| ·MAX3111与DSP的连接设计 | 第61-64页 |
| ·AT25256与DSP的连接设计 | 第64-65页 |
| ·相关算法程序设计 | 第65-67页 |
| ·单片机程序设计 | 第67-70页 |
| ·单片机的初始化 | 第68页 |
| ·查表程序设计 | 第68-70页 |
| 第七章 结论 | 第70-71页 |
| 参考文献 | 第71-73页 |
| 在学研究成果 | 第73-74页 |
| 致谢 | 第74页 |