扫描探针显微镜测量单根四针状氧化锌晶须电阻方法
| 摘要 | 第1-8页 |
| Abstract | 第8-11页 |
| 第一章 绪论 | 第11-23页 |
| ·电阻测量传统方法 | 第11-15页 |
| ·四探针法 | 第11-13页 |
| ·高阻计方法 | 第13-15页 |
| ·使用STM测量电阻新方法 | 第15-19页 |
| ·SPM的国内外现状 | 第15-18页 |
| ·SPM的国内外发展现状分析 | 第18-19页 |
| ·基于SPM的微纳结构电性能表征技术进展 | 第19-20页 |
| ·本论文的研究意义和主要内容 | 第20-23页 |
| ·研究意义 | 第20-21页 |
| ·研究内容 | 第21-23页 |
| 第二章 四针状氧化锌晶须的分散方法研究 | 第23-30页 |
| ·引言 | 第23-24页 |
| ·实验部分 | 第24-25页 |
| ·实验器材 | 第24页 |
| ·四针状氧化锌晶须的分散过程 | 第24-25页 |
| ·结果与讨论 | 第25-29页 |
| ·氧化锌分散前后形貌分析 | 第25-27页 |
| ·氧化锌二维粗糙度 | 第27-29页 |
| ·本章小结 | 第29-30页 |
| 第三章 四针状氧化锌晶须与底电极连接技术研究 | 第30-41页 |
| ·引言 | 第30-31页 |
| ·实验部分 | 第31-32页 |
| ·实验器材 | 第31页 |
| ·实验流程 | 第31-32页 |
| ·结果与讨论 | 第32-40页 |
| ·DSC/TG分析 | 第32-35页 |
| ·SEM分析 | 第35-38页 |
| ·STM分析 | 第38-40页 |
| ·本章小结 | 第40-41页 |
| 第四章 STM测量氧化锌晶须电阻方法研究 | 第41-52页 |
| ·引言 | 第41-42页 |
| ·实验部分 | 第42-46页 |
| ·结果与讨论 | 第46-51页 |
| ·STM分析 | 第46-47页 |
| ·电流分析和电阻计算 | 第47-51页 |
| ·本章小结 | 第51-52页 |
| 结论 | 第52-53页 |
| 致谢 | 第53-54页 |
| 参考文献 | 第54-58页 |
| 实习报告目录 | 第58页 |
