摘要 | 第5-7页 |
Abstract | 第7-8页 |
第一章 绪论 | 第17-39页 |
1.1 研究背景及意义 | 第17-20页 |
1.1.1 同步辐射及上海光源概述 | 第17页 |
1.1.2 储存环束流测量系统 | 第17-19页 |
1.1.3 逐束团诊断技术的意义 | 第19-20页 |
1.1.4 课题研究的意义 | 第20页 |
1.2 电荷量检测系统国内外研究现状 | 第20-24页 |
1.2.1 ALS逐束团电荷量测量系统 | 第20-21页 |
1.2.2 高能所BEPCII储存环逐束团测量研究 | 第21-23页 |
1.2.3 合肥光源逐束团测量系统 | 第23-24页 |
1.3 寿命检测系统国内外研究现状 | 第24-27页 |
1.3.1 ESRF寿命测量系统 | 第24-25页 |
1.3.2 MAX IV Touschek寿命和真空寿命研究 | 第25-27页 |
1.4 工作点测量系统国内外发展现状 | 第27-34页 |
1.4.1 CERN BBQ 工作点测量系统 | 第28-29页 |
1.4.2 Diamond 工作点测量系统 | 第29-31页 |
1.4.3 APS工作点测量系统 | 第31-32页 |
1.4.4 合肥光源的工作点测量系统 | 第32-33页 |
1.4.5 国内外工作点测量系统调研小结 | 第33-34页 |
1.5 上海光源填充模式检测及工作点测量系统 | 第34-37页 |
1.5.1 上海光源现有逐束团电荷量测量系统 | 第35-36页 |
1.5.2 上海光源现有工作点测量系统 | 第36-37页 |
1.6 本文主要研究内容与创新点 | 第37-39页 |
第二章 上海光源逐束团数据采集系统分析及优化 | 第39-63页 |
2.1 逐束团数据采集系统需求分析 | 第39-40页 |
2.2 束流信号处理器介绍 | 第40-47页 |
2.3 数据采集系统常规参数评估 | 第47-54页 |
2.3.1 信号测试平台设计 | 第47-50页 |
2.3.2 幅频响应测定 | 第50-51页 |
2.3.3 通道间一致性评估 | 第51-53页 |
2.3.4 信噪比测量 | 第53-54页 |
2.4 特性参数测试及补偿技术研究 | 第54-62页 |
2.4.1 时钟抖动对测量的影响 | 第54-56页 |
2.4.2 束团间串扰的测定 | 第56-60页 |
2.4.3 通道间串扰的测定和补偿 | 第60-62页 |
2.5 本章小结 | 第62-63页 |
第三章 逐束团电荷量测量系统和束流寿命测量 | 第63-91页 |
3.1 逐束团电荷量测量系统的研制 | 第63-81页 |
3.1.1 流强测量系统研制的必要性 | 第63-64页 |
3.1.2 逐束团测量系统原理 | 第64-69页 |
3.1.3 基于束流信号处理器的逐束团电荷量测量系统 | 第69-72页 |
3.1.4 基于两点采样法的逐束团电荷量测量系统 | 第72-80页 |
3.1.5 两种采样方法性能对比 | 第80-81页 |
3.2 束团寿命的精确测量和分析 | 第81-89页 |
3.2.1 寿命测量的现状及其重要性 | 第81-82页 |
3.2.2 基本原理 | 第82-84页 |
3.2.3 束流实验 | 第84-88页 |
3.2.4 应用 | 第88-89页 |
3.3 本章小结 | 第89-91页 |
第四章 基于逐束团诊断技术的微扰工作点测量方法研究 | 第91-111页 |
4.1 工作点测量的意义 | 第91-94页 |
4.1.1 理论基础 | 第91-92页 |
4.1.2 工作点测量的重要性 | 第92-94页 |
4.2 工作点测量的主要方法 | 第94-95页 |
4.3 上海光源BBQ方案尝试 | 第95-99页 |
4.4 逐束团工作点测量方案 | 第99-109页 |
4.4.1 方法讨论 | 第99页 |
4.4.2 逐束团工作点测量系统 | 第99-109页 |
4.5 本章小结 | 第109-111页 |
第五章 结论与展望 | 第111-115页 |
5.1 本文总结 | 第111-112页 |
5.2 工作展望 | 第112-115页 |
5.2.1 功能下放 | 第112-113页 |
5.2.2 算法优化方向 | 第113-115页 |
参考文献 | 第115-121页 |
致谢 | 第121-122页 |
作者简历及攻读学位期间发表的学术论文与研究成果 | 第122页 |