瓦片式相控阵内校准关键技术设计与实现
| 摘要 | 第5-6页 |
| abstract | 第6-7页 |
| 第一章 绪论 | 第11-19页 |
| 1.1 研究的背景与意义 | 第11-12页 |
| 1.2 国内外研究历史与现状 | 第12-17页 |
| 1.3 本文的主要研究内容 | 第17-18页 |
| 1.4 本论文的结构安排 | 第18-19页 |
| 第二章 相控阵天线原理及构成 | 第19-24页 |
| 2.1 相控阵天线原理及特点 | 第19-22页 |
| 2.2 相控阵天线主要构成 | 第22-23页 |
| 2.3 本章小结 | 第23-24页 |
| 第三章 方案及关键技术设计 | 第24-60页 |
| 3.1 瓦片式相控阵总体方案 | 第24-28页 |
| 3.1.1 总体方案设计 | 第25-26页 |
| 3.1.1.1 阵元间距设计 | 第25页 |
| 3.1.1.2 阵面规模 | 第25-26页 |
| 3.1.1.3 收发一体化散热设计 | 第26页 |
| 3.1.1.4 内校准环路 | 第26页 |
| 3.1.2 组成 | 第26-27页 |
| 3.1.3 工作模式 | 第27-28页 |
| 3.1.4 内校准模式 | 第28页 |
| 3.2 关键技术设计 | 第28-59页 |
| 3.2.1 内校准网络 | 第29-32页 |
| 3.2.1.1 指标要求 | 第29页 |
| 3.2.1.2 内校准网络设计 | 第29-32页 |
| 3.2.2 微带天线阵列 | 第32-38页 |
| 3.2.2.1 单元设计 | 第32-34页 |
| 3.2.2.2 互耦仿真 | 第34-35页 |
| 3.2.2.3 阵列仿真 | 第35-38页 |
| 3.2.2.4 制造工艺 | 第38页 |
| 3.2.3 瓦片式模块 | 第38-52页 |
| 3.2.3.1 设计思路 | 第38-39页 |
| 3.2.3.2 结构方案 | 第39页 |
| 3.2.3.3 芯片选型及射频链路 | 第39-42页 |
| 3.2.3.4 射频过渡与馈电网络的设计 | 第42-51页 |
| 3.2.3.5 电路部分互联设计 | 第51-52页 |
| 3.2.4 波控及供电 | 第52-59页 |
| 3.2.4.1 供电电路设计 | 第53-55页 |
| 3.2.4.2 波控电路设计 | 第55-57页 |
| 3.2.4.3 软件设计 | 第57-59页 |
| 3.3 本章小结 | 第59-60页 |
| 第四章 测试验证 | 第60-79页 |
| 4.1 测试理论 | 第60-72页 |
| 4.1.1 天线测量技术 | 第60-65页 |
| 4.1.1.1 远场测量技术 | 第61页 |
| 4.1.1.2 中场测量技术 | 第61-62页 |
| 4.1.1.3 压缩场测量技术 | 第62-63页 |
| 4.1.1.4 近场测量技术 | 第63-65页 |
| 4.1.2 相控阵天线的校准 | 第65-71页 |
| 4.1.2.1 矩阵求逆法 | 第65-66页 |
| 4.1.2.2 矢量旋转法 | 第66-67页 |
| 4.1.2.3 Phase-toggling法 | 第67-68页 |
| 4.1.2.4 换相测量法 | 第68-70页 |
| 4.1.2.5 互耦校准法 | 第70-71页 |
| 4.1.3 阵面监测技术 | 第71-72页 |
| 4.2 测试平台 | 第72-74页 |
| 4.3 测试流程 | 第74页 |
| 4.4 测试结果 | 第74-78页 |
| 4.4.1 近场校准 | 第74-76页 |
| 4.4.2 远场测试 | 第76页 |
| 4.4.3 人为叠加误差 | 第76-77页 |
| 4.4.4 内校准验证 | 第77-78页 |
| 4.5 本章小结 | 第78-79页 |
| 第五章 全文总结与展望 | 第79-81页 |
| 5.1 全文总结 | 第79-80页 |
| 5.2 后续工作展望 | 第80-81页 |
| 致谢 | 第81-82页 |
| 参考文献 | 第82-84页 |
