电离图F层参数自动判读及foF2短期预测
| 摘要 | 第5-6页 |
| ABSTRACT | 第6-7页 |
| 符号对照表 | 第11-12页 |
| 缩略语对照表 | 第12-15页 |
| 第一章 绪论 | 第15-21页 |
| 1.1 研究背景及意义 | 第15-16页 |
| 1.1.1 电离层参数短期预测的研究意义 | 第15-16页 |
| 1.1.2 电离图自动判读的研究意义 | 第16页 |
| 1.2 国内外研究概况 | 第16-19页 |
| 1.2.1 国内外短期预报研究概况 | 第17-18页 |
| 1.2.2 电离图自动判读国内外研究动态 | 第18-19页 |
| 1.3 本文主要工作内容及框架 | 第19-20页 |
| 1.4 本文创新点 | 第20-21页 |
| 第二章 电离层理论基础 | 第21-33页 |
| 2.1 电离层分层结构 | 第21-23页 |
| 2.2 电离层控制因素介绍 | 第23-25页 |
| 2.2.1 太阳活动 | 第23-24页 |
| 2.2.2 地磁活动 | 第24-25页 |
| 2.3 电离层探测原理 | 第25-28页 |
| 2.3.1 斜向和返回散射探测 | 第25页 |
| 2.3.2 垂直探测 | 第25-28页 |
| 2.4 电离层垂测图 | 第28-30页 |
| 2.5 本文算法流程 | 第30-31页 |
| 2.6 本章小结 | 第31-33页 |
| 第三章 垂测电离图预处理 | 第33-45页 |
| 3.1 滤波去噪 | 第33-36页 |
| 3.1.1 均值滤波 | 第33-34页 |
| 3.1.2 中值滤波 | 第34页 |
| 3.1.3 维纳滤波 | 第34-36页 |
| 3.2 去除多次反射描迹 | 第36-39页 |
| 3.3 Canny算子边缘检测 | 第39-42页 |
| 3.4 F层描迹边缘提取 | 第42-44页 |
| 3.5 本章小结 | 第44-45页 |
| 第四章 F层参数自动判读 | 第45-59页 |
| 4.1 形态学膨胀/腐蚀操作 | 第45-48页 |
| 4.2 O波描迹提取 | 第48-52页 |
| 4.2.1 O波描迹初步提取 | 第48-49页 |
| 4.2.2 O波描迹修复 | 第49-51页 |
| 4.2.3 最大连通分量提取 | 第51-52页 |
| 4.3 描迹骨架提取 | 第52-56页 |
| 4.4 F层参数判读 | 第56-57页 |
| 4.5 本章小结 | 第57-59页 |
| 第五章 基于小波神经网络的foF2短期预测 | 第59-79页 |
| 5.1 foF2分时变化特点 | 第59-62页 |
| 5.2 F2层临界频率EMD分析 | 第62-67页 |
| 5.2.1 EMD分析原理 | 第62-65页 |
| 5.2.2 foF2整点数据EMD分解 | 第65-67页 |
| 5.3 小波神经网络预测模型 | 第67-76页 |
| 5.3.1 模型原理 | 第67-70页 |
| 5.3.2 预报实验 | 第70-73页 |
| 5.3.3 改进的预测方法 | 第73-76页 |
| 5.4 本章小结 | 第76-79页 |
| 第六章 总结与展望 | 第79-81页 |
| 参考文献 | 第81-85页 |
| 致谢 | 第85-87页 |
| 作者简介 | 第87-88页 |
