| 摘要 | 第4-6页 |
| Abstract | 第6-7页 |
| 第一章 绪论 | 第11-22页 |
| 1.1 高压科学发展简介 | 第11-12页 |
| 1.2 高压电学研究意义 | 第12-13页 |
| 1.3 高介电常数材料 | 第13-14页 |
| 1.4 CaCu_3Ti_4O_(12)简介 | 第14-16页 |
| 1.5 CaCu_3Ti_4O_(12)的高压研究 | 第16-20页 |
| 1.6 论文选题的目的及意义 | 第20-21页 |
| 1.7 论文各部分的主要内容 | 第21-22页 |
| 第二章 高压科学实验装置与技术 | 第22-36页 |
| 2.1 高压实验装置 | 第23-28页 |
| 2.1.1 DAC装置 | 第23-25页 |
| 2.1.2 压力的标定 | 第25页 |
| 2.1.3 制作绝缘垫片的过程 | 第25-28页 |
| 2.2 测量微电路的集成过程 | 第28-32页 |
| 2.3 高压电学测量方法 | 第32-35页 |
| 2.3.1 交流阻抗谱法的应用 | 第32页 |
| 2.3.2 测量交流阻抗谱装置 | 第32-33页 |
| 2.3.3 测量交流阻抗谱的原理和表示方法 | 第33-35页 |
| 2.4 本章小结 | 第35-36页 |
| 第三章 高压下CaCu_3Ti_4O_(12-x)NiO(x=0.006)的拉曼光谱研究 | 第36-42页 |
| 3.1 CaCu_3Ti_4O_(12-x)NiO(x=0.006)样品的常压XRD表征 | 第36-37页 |
| 3.2 CaCu_3Ti_4O_(12-x)NiO(x=0.006)样品的扫描电子显微镜表征 | 第37-39页 |
| 3.3 CaCu_3Ti_4O_(12-x)NiO(x=0.006)样品的高压拉曼光谱测量 | 第39-41页 |
| 3.4 本章小结 | 第41-42页 |
| 第四章 高压下CaCu_3Ti_4O_(12-x)NiO(x=0.006)的电学性质研究 | 第42-52页 |
| 4.1 高压下CaCu_3Ti_4O_(12-x)NiO(x=0.006)的交流阻抗谱 | 第42-49页 |
| 4.1.1 交流阻抗谱分析方法 | 第42-43页 |
| 4.1.2 高压下CaCu_3Ti_4O_(12-x)NiO(x=0.006)的阻抗谱测量 | 第43-49页 |
| 4.2 CaCu_3Ti_4O_(12-x)NiO(x=0.006)的介电常数计算 | 第49-50页 |
| 4.3 本章小结 | 第50-52页 |
| 第五章 总结与展望 | 第52-55页 |
| 5.1 总结 | 第52-53页 |
| 5.2 展望 | 第53-55页 |
| 参考文献 | 第55-61页 |
| 作者简介 | 第61-62页 |
| 致谢 | 第62页 |
